WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009091039) DISPOSITIF DE MESURE À RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE, CELLULE D'ÉCHANTILLON, ET PROCÉDÉ DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/091039    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/050564
Date de publication : 23.07.2009 Date de dépôt international : 16.01.2009
CIB :
G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/03 (2006.01), G01N 35/02 (2006.01)
Déposants : NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION [JP/JP]; 3-1, Otemachi 2-chome, Chiyoda-ku Tokyo 1008116 (JP) (Tous Sauf US).
IWASAKI, Yuzuru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HORIUCHI, Tsutomu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SEYAMA, Michiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MIURA, Toru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HAGA, Tsuneyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HAYASHI, Tsuyoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : IWASAKI, Yuzuru; (JP).
HORIUCHI, Tsutomu; (JP).
SEYAMA, Michiko; (JP).
MIURA, Toru; (JP).
HAGA, Tsuneyuki; (JP).
HAYASHI, Tsuyoshi; (JP)
Mandataire : YAMAKAWA, Masaki; c/o Yamakawa International Patent Office 4th Floor, Sanno Park Tower 11-1, Nagatacho 2-chome Chiyoda-ku Tokyo 1006104 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-006647 16.01.2008 JP
2008-006649 16.01.2008 JP
Titre (EN) SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING DEVICE, SAMPLE CELL, AND MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE À RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE, CELLULE D'ÉCHANTILLON, ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 表面プラズモン共鳴測定装置、試料セルおよび測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A surface plasmon resonance measuring device uses a sample cell (10) having a characteristic structure of light reflectance formed as a code on a part of a metal thin film by a material to be measured or a material different from the material to be measured. The surface plasmon resonance measuring device includes: a light source (2) which applies to the sample cell (10), light collected from the surface of the metal thin film onto which the material to be measured is fixed and from the opposite surface; a CCD camera (5) which detects a reflected light from the sample cell (10); and a data processing device (6) which extracts an identification code of the sample cell (10) from the image feature captured by the camera (5).
(FR)La présente invention a pour objet un dispositif de mesure à résonance plasmonique de surface qui utilise une cellule d'échantillon (10) présentant une structure caractéristique de réflexion de la lumière formée comme un code, sur une partie d'un film mince métallique, par un matériau devant être mesuré ou un matériau différent du matériau devant être mesuré. Le dispositif de mesure à résonance plasmonique de surface comprend : une source de lumière (2) qui s'applique sur la cellule d'échantillon (10), la lumière récupérée à partir de la surface du film mince métallique sur lequel le matériau devant être mesuré est fixé et à partir de la surface opposée ; une caméra CCD (5) qui détecte une lumière réfléchie à partir de la cellule d'échantillon (10) ; et un dispositif de traitement des données (6) qui extrait un code d'identification de la cellule d'échantillon (10) à partir de la caractéristique d'image capturée par la caméra (5).
(JA) 表面プラズモン共鳴測定装置は、被測定物質及びこの被測定物質と異なる物質の少なくとも一方により光の反射率の特徴的構造がコードとして予め形成された試料セル(10)に対して、金属薄膜に被測定物質が固定された面と反対側から集光した光を照射する光源(2)と、試料セル(10)からの反射光を検出するCCDカメラ(5)と、カメラ(5)で撮像された画像の特徴から試料セル(10)の識別コードを抽出するデータ処理装置(6)とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)