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1. (WO2009090741) DISPOSITIF DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR, PROCÉDÉ DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR ET PROGRAMME DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/090741    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/050532
Date de publication : 23.07.2009 Date de dépôt international : 17.01.2008
CIB :
H04R 3/04 (2006.01), G10K 15/00 (2006.01)
Déposants : PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 4-1, Meguro 1-chome, Meguro-ku, Tokyo 1538654 (JP) (Tous Sauf US).
HASEGAWA, Tomomi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IMANISHI, Yoshitomo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HASEGAWA, Tomomi; (JP).
IMANISHI, Yoshitomo; (JP)
Mandataire : NAKAMURA, Toshinobu; c/o TOKYO CENTRAL PATENT FIRM 3rd Floor, Oak Building Kyobashi 16-10, Kyobashi 1-chome, Chuou-ku Tokyo 1040031 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SPEAKER CHARACTERISTIC CORRECTION DEVICE, SPEAKER CHARACTERISTIC CORRECTION METHOD, AND SPEAKER CHARACTERISTIC CORRECTION PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR, PROCÉDÉ DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR ET PROGRAMME DE CORRECTION DE CARACTÉRISTIQUE DE HAUT-PARLEUR
(JA) スピーカ特性補正装置、スピーカ特性補正方法、及びスピーカ特性補正プログラム
Abrégé : front page image
(EN)A speaker characteristic correction device acquires first speaker information on a first speaker, acquires first sound field characteristic at an evaluation point obtained in advance by using the first speaker, and acquires a second speaker parameter indicating mechanical characteristic and electric characteristic in the second speaker. According to the first speaker information and the second speaker parameter, correction characteristic is calculated. The correction characteristic is applied to the first sound field so as to obtain second sound field characteristic. Thus, when the speaker type is changed, it is possible to easily obtain the sound field characteristic without performing re-measurement by speaker installation or re-analysis according to the analysis condition setting.
(FR)Dispositif de correction de caractéristique de haut-parleur acquérant des premières informations de haut-parleur sur un premier haut-parleur, acquérant une première caractéristique de champ sonore à un point d'évaluation obtenu à l'avance au moyen du premier haut-parleur, et acquérant un second paramètre de haut-parleur indiquant une caractéristique mécanique et une caractéristique électrique dans le second haut-parleur. Selon les premières informations de haut-parleur et le second paramètre de haut-parleur, la caractéristique de correction est calculée. La caractéristique de correction est appliquée au premier champ sonore de sorte à obtenir une seconde caractéristique de champ sonore. Ainsi, lorsque le type de haut-parleur est modifié, il est possible d'obtenir facilement la caractéristique de champ sonore sans réaliser une autre mesure par l'installation de haut-parleur ou une autre analyse selon le paramétrage de condition d'analyse.
(JA)スピーカ特性補正装置は、第1のスピーカにおける第1のスピーカ情報を取得し、第1のスピーカを用いて予め得られた、評価点における第1の音場特性を取得し、第2のスピーカにおける機械的特性及び電気的特性を示す第2のスピーカパラメータを取得する。そして、第1のスピーカ情報及び第2のスピーカパラメータに基づいて補正特性を算出し、当該補正特性を第1の音場特性に対して適用することによって第2の音場特性を求める。これにより、スピーカの種類を変更した場合などにおいて、スピーカの取り付けによる再測定、解析条件設定による再解析などを行うことなく、音場特性を容易に求めることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)