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1. (WO2009090572) MÉTRIQUE D'ALIGNEMENT DE SUPERPOSITION D'IMAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/090572    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/050041
Date de publication : 23.07.2009 Date de dépôt international : 07.01.2009
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS, N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
ZHAO, Zuo [CN/US]; (US) (US Seulement).
SHAO, Lingxiong [US/US]; (US) (US Seulement).
YE, Jinghan [US/US]; (US) (US Seulement).
SONG, Xiyun [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ZHAO, Zuo; (US).
SHAO, Lingxiong; (US).
YE, Jinghan; (US).
SONG, Xiyun; (US)
Mandataire : DAMEN, Daniel, M.; Philips Intellectual Property & Standards, High Tech Campus 44, P.O. Box 220, NL-5600 AE Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
61/022,019 18.01.2008 US
Titre (EN) IMAGE REGISTRATION ALIGNMENT METRIC
(FR) MÉTRIQUE D'ALIGNEMENT DE SUPERPOSITION D'IMAGE
Abrégé : front page image
(EN)A method includes obtaining a combined data set that includes first and second imaging data sets. The first and second imaging data sets correspond to different imaging modalities. The method further includes determining a metric indicative of an alignment between the first and second imaging data sets in the combined data set. The method further includes presenting the metric in a human readable format.
(FR)L'invention porte sur un procédé qui comprend l'obtention d'un ensemble de données combiné comprenant des premier et second ensembles de données d'imagerie. Ces ensembles correspondent à différentes modalités d'imagerie. Le procédé consiste en outre à déterminer une métrique indicative d'un alignement entre les premier et second ensembles de données d'imagerie dans l'ensemble de données combiné. Le procédé comprend en outre la présentation de la métrique dans un format interprétable par l'utilisateur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)