WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009089531) ETALON DE MÉTAL AVEC FIL D'OPTIMISATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/089531    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/030746
Date de publication : 16.07.2009 Date de dépôt international : 12.01.2009
CIB :
G02B 26/00 (2006.01), G02B 5/28 (2006.01)
Déposants : HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P. [US/US]; 20555 S.H. 249 Houston, TX 77070 (US) (Tous Sauf US).
CLARK, Stephan, R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CLARK, Stephan, R.; (US)
Mandataire : MYERS, Timothy, F.; (US).
DANG, Thi, D.; (US).
DAKIN, Lloyd, E.; (US).
COULMAN, Donald, J.; (US).
CZARNECKI, Michael; (US)
Données relatives à la priorité :
11/971,106 08.01.2008 US
Titre (EN) METAL ETALON WITH ENHANCING STACK
(FR) ETALON DE MÉTAL AVEC FIL D'OPTIMISATION
Abrégé : front page image
(EN)A device includes a pair of two partially transmitting optical surfaces positioned approximately parallel to each other and spaced apart. A high reflectance metal etalon coating is formed on each of the optical surfaces. An enhancing stack is coupled to the metal etalon coating on each of the optical surfaces.
(FR)L'invention concerne un dispositif comprenant une paire de deux surfaces optiques à transmission partielle positionnées de manière approximativement parallèle l'une à l'autre et espacées. Un revêtement d'étalon de métal à réflectance élevée est formé sur chacune des surfaces optiques. Une pile d'optimisation est couplée au revêtement d'étalon de métal sur chacune des surfaces optiques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)