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1. (WO2009088148) SUPPORT DE STOCKAGE D'INFORMATIONS HOLOGRAPHIQUES, ET APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR INSPECTER UN DÉFAUT DE CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/088148    N° de la demande internationale :    PCT/KR2008/005360
Date de publication : 16.07.2009 Date de dépôt international : 11.09.2008
CIB :
G11B 7/007 (2006.01)
Déposants : SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 416, Maetan-dong, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do 442-742 (KR)
Inventeurs : HWANG, Sung-Hee; (KR).
JEONG, Taek-Seong; (KR)
Mandataire : Y.P.LEE, MOCK & PARTNERS; Koryo Building, 1575-1, Seocho-dong, Seocho-gu, Seoul 137-875 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2008-0002927 10.01.2008 KR
Titre (EN) HOLOGRAPHIC INFORMATION STORAGE MEDIUM, AND APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT THEREOF
(FR) SUPPORT DE STOCKAGE D'INFORMATIONS HOLOGRAPHIQUES, ET APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR INSPECTER UN DÉFAUT DE CELUI-CI
Abrégé : front page image
(EN)A defect entry, including position information of a defective block of a reference information layer and state information indicating the defective state of blocks of the other information layers located adjacent to a perpendicular direction at a position of the defective block of the reference information layer, is recorded on a holographic information storage medium. A method of inspecting for a defect includes determining whether blocks in a reference information layer are defective, and determining whether blocks of the other information layers located adjacent to a perpendicular direction at a position of a defective block of the reference information layer are defective, based on a result of the defect determination of the reference information layer.
(FR)Une entrée de défaut, comprenant des informations de position d'un bloc défectueux d'une couche d'informations de référence et d'informations d'état indiquant l'état défectueux de blocs des autres couches d'informations situées de manière adjacente à une direction perpendiculaire à une position du bloc défectueux de la couche d'informations de référence est enregistrée sur un support de stockage d'informations holographiques. Un procédé d'inspection pour un défaut comprend la détermination du point de savoir si des blocs dans une couche d'informations de référence sont défectueux ou non, et la détermination du point de savoir si les blocs des autres couches d'informations situées de manière adjacente à une direction perpendiculaire à une position d'un bloc défectueux de la couche d'informations de référence sont défectueux ou non, sur la base d'un résultat de la détermination de défaut de la couche d'informations de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)