WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009088091) PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE RÉFRACTAIRE ET APPAREIL ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/088091    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/050262
Date de publication : 16.07.2009 Date de dépôt international : 06.01.2009
CIB :
G01B 15/02 (2006.01), G01B 21/08 (2006.01)
Déposants : NIPPON STEEL CORPORATION [JP/JP]; 6-1, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1008071 (JP) (Tous Sauf US).
UEHARA, Takuo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAKAMURA, Hitoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KAWASHIMA, Ryouji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YAMANAKA, Hironobu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : UEHARA, Takuo; (JP).
NAKAMURA, Hitoshi; (JP).
KAWASHIMA, Ryouji; (JP).
YAMANAKA, Hironobu; (JP)
Mandataire : AOKI, Atsushi; SEIWA PATENT & LAW, Toranomon 37 Mori Bldg., 5-1, Toranomon 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1058423 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-001349 08.01.2008 JP
Titre (EN) REFRACTORY THICKNESS MEASURING METHOD, AND APPARATUS THEREFOR
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE RÉFRACTAIRE ET APPAREIL ASSOCIÉ
(JA) 耐火物厚み測定方法及びその装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a refractory thickness measuring method comprising irradiating a tubing material with a radiation, detecting an attenuated radiation having passed through the tubing material and a refractory on the inner side of the tubing material, detecting the irradiation-position surface temperature of the surface of the tubing material irradiated with the radiation and the detection-position surface temperature of the surface of the tubing material where the attenuated radiation is detected, calculating the attenuated intensity of the refractory by eliminating the attenuated intensity of the tubing material from the attenuated intensity of the attenuated radiation detected, calculating a refractory thickness from the attenuated intensity of the refractory, and calculating the irradiation-side refractory thickness and the detection-side refractory thickness from the refractory thickness, by using the irradiation-position surface temperature and the detection-position surface temperature.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure d'épaisseur de réfractaire consistant à irradier un matériau de formation de tube à l'aide d'un rayonnement, à détecter un rayonnement atténué ayant traversé le matériau de formation de tube et un réfractaire sur la face intérieure du matériau de formation de tube, à détecter la température de surface au niveau de la position d'irradiation de la surface du matériau de formation de tube irradié à l'aide du rayonnement et la température de surface au niveau de la position de détection de la surface du matériau de formation de tube lorsque le rayonnement atténué est détecté, à calculer l'intensité atténuée du réfractaire par élimination de l'intensité atténuée du matériau de formation de tube à partir de l'intensité atténuée du rayonnement atténué détecté, à calculer une épaisseur de réfractaire à partir de l'intensité atténuée du réfractaire, et à calculer l'épaisseur de réfractaire côté irradiation et l'épaisseur de réfractaire côté détection à partir de l'épaisseur de réfractaire, à l'aide de la température de surface au niveau de la position d'irradiation et de la température de surface au niveau de la position de détection.
(JA)耐火物厚み測定方法は、放射線を管材料に照射し、管材料と管材料内側の耐火物とを通過した減衰放射線を検出し、放射線を照射した管材料の表面の照射位置表面温度、及び、減衰放射線を検出した管材料の表面の検出位置表面温度を検出し、検出した減衰放射線の減衰強度から管材料の減衰強度を取り除いて、耐火物の減衰強度を算出し、耐火物の減衰強度から、耐火物厚みを算出し、照射位置表面温度と検出位置表面温度を用いて、耐火物厚みから照射側耐火物厚み及び検出側耐火物厚みを算出する耐火物厚み測定方法を構成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)