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1. (WO2009086319) SUPPORT DE SPÉCIMEN DESTINÉ À LA MICROSCOPIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/086319    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/088052
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 22.12.2008
CIB :
G02B 21/26 (2006.01), G02B 21/34 (2006.01), G01R 33/30 (2006.01), G01N 1/36 (2006.01)
Déposants : PROTOCHIPS, INC. [US/US]; 840 Main Campus Drive, Suite 3500, Raleigh, NC 27606 (US) (Tous Sauf US).
MICK, Stephen, E. [US/US]; (US) (US Seulement).
DAMIANO, John [US/US]; (US) (US Seulement).
NACKASHI, David, P. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : MICK, Stephen, E.; (US).
DAMIANO, John; (US).
NACKASHI, David, P.; (US)
Mandataire : FUIERER, Tristan; Moore & Van Allen, PLLC, P.o. Box 13706, Research Triangle Park, NC 27709 (US)
Données relatives à la priorité :
61/016,206 21.12.2007 US
Titre (EN) SPECIMEN MOUNT FOR MICROSCOPY
(FR) SUPPORT DE SPÉCIMEN DESTINÉ À LA MICROSCOPIE
Abrégé : front page image
(EN)Devices, mounts, stages, interfaces and systems to be developed that allow for in situ manipulation, experimentation and analysis of specimens directly within an electron microscope.
(FR)L'invention concerne des dispositifs, des supports, des platines, des interfaces et des systèmes à mettre au point qui permettent la manipulation, l'expérimentation et l'analyse in situ de spécimens directement à l'intérieur d'un microscope électronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)