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1. (WO2009086214) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉTACHEMENT D'IMPLANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/086214    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/087855
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 19.12.2008
CIB :
A61F 2/06 (2006.01)
Déposants : MICROVENTION, INC.; 75 Columbia, Suite A, Aliso Viejo, CA 92656 (US) (Tous Sauf US).
TIEU, Tai, D. [US/US]; (US) (US Seulement).
MARTINEZ, George [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : TIEU, Tai, D.; (US).
MARTINEZ, George; (US)
Mandataire : SWANSON, Shane, S.; Inskeep Intellectual Property Group. Inc., 2281 West 190th Street, Suite 200, Torrance, CA 90504 (US)
Données relatives à la priorité :
61/016,180 21.12.2007 US
Titre (EN) A SYSTEM AND METHOD OF DETECTING IMPLANT DETACHMENT
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉTACHEMENT D'IMPLANT
Abrégé : front page image
(EN)A system and method of detecting implant detachment within the body of a patient. The activation of the heater coil causes the degradation, melting or reduction of a component that brings the heater coil into or out of electrical contact with another component, or causes the individual loops of the coil to contact each other, thereby resulting in a notable change in resistance in the circuit supplying the heater coil with electricity.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé de détection de détachement d'implant dans le corps d'un patient. L'activation d'un serpentin de chauffage entraîne la dégradation, la fusion ou la réduction d'un composant qui met le serpentin en contact électrique avec un autre composant ou hors contact avec celui-ci, ou qui met les boucles individuelles du serpentin en contact mutuel, ce qui entraîne une modification notable de résistance dans le circuit alimentant le serpentin en énergie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)