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1. (WO2009086122) SYSTÈME LASER ULTRACOURT DIRECT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/086122    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/087707
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 19.12.2008
CIB :
H01S 3/00 (2006.01), H01S 3/23 (2006.01), H01S 3/13 (2006.01)
Déposants : BOARD OF TRUSTEES OF MICHIGAN STATE UNIVERSITY [US/US]; 246 Administration Building East Lansing, Michigan 48824 (US) (Tous Sauf US).
DANTUS, Marcos [US/US]; (US) (US Seulement).
LOZOVOY, Vadim V. [RU/US]; (US) (US Seulement).
XU, Bingwei [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : DANTUS, Marcos; (US).
LOZOVOY, Vadim V.; (US).
XU, Bingwei; (US)
Mandataire : FALCOFF, Monte L.; Harness, Dickey & Pierce, PLC P. O. Box 828 Bloomfield Hills, Michigan 48303 (US)
Données relatives à la priorité :
61/015,976 21.12.2007 US
Titre (EN) CONTROL IN ULTRASHORT LASER SYSTEMS BY A DEFORMABLE MIRROR IN THE STRETCHER
(FR) SYSTÈME LASER ULTRACOURT DIRECT
Abrégé : front page image
(EN)A direct ultrashort laser system is provided. In another aspect of the present invention, a method of measuring laser pulse phase distortions is performed without requiring an adaptive pulse shaper or interferometry. In yet another aspect of the present invention, a system, a method of operating, a control system, and a set of programmable computer software instructions perform Multiphoton Intrapulse Interference Phase Scan processes, calculations, characterization and/or correction without requiring an adaptive pulse shaper. Pulse shaping may be performed by a deformable mirror (121) in a pulse stretcher (115).
(FR)L'invention concerne un système laser ultracourt direct. Dans un autre aspect de la présente invention, un procédé de mesure des distorsions de phase des impulsions laser est exécuté sans requérir un façonneur adaptatif d'impulsions ou une interférométrie. Dans encore un autre aspect de la présente invention, un système, un procédé de fonctionnement, un système de commande et un ensemble d'instructions logicielles programmables exécutent des procédés de balayage multiphoton à interférence de phase intraimpulsion, des calculs, une caractérisation et/ou une correction sans requérir un façonneur adaptatif d'impulsions.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)