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1. (WO2009085867) APPAREIL D'ESSAI DE MATÉRIAU À CAPTEUR SANS CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/085867    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/087272
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 17.12.2008
CIB :
G01B 3/00 (2006.01)
Déposants : NANOVEA, INC. [US/US]; 6 Morgan, Ste. 156, Irvine, CA 92618 (US) (Tous Sauf US).
LEROUX, Pierre [CA/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LEROUX, Pierre; (US)
Mandataire : ALTMAN, Daniel, E.; Knobbe, Martens, Olson & Bear, LLP, 2040 Main Street, 14th Floor, Irvine, CA 92614 (US)
Données relatives à la priorité :
61/015,571 20.12.2007 US
Titre (EN) MATERIAL TESTING APPARATUS WITH NON-CONTACT SENSOR
(FR) APPAREIL D'ESSAI DE MATÉRIAU À CAPTEUR SANS CONTACT
Abrégé : front page image
(EN)A non-contact sensor is attached to the indenting module with its working range encompassing the tip of the indent er. The sensor directly measures penetration depth of the indenter during scratch, wear or instrumented hardness testing. During the test, the non- contact sensor records the height of the surface as the indenter penetrates the surface of the testing specimen.
(FR)Un capteur sans contact est fixé au module de pénétration, son champ d'action englobant la pointe du pénétrateur. Le capteur mesure directement la profondeur de pénétration du pénétrateur au cours de l'essai de rayage, d'usure ou de dureté instrumenté. Au cours de l'essai, le capteur sans contact enregistre la hauteur de la surface lorsque le pénétrateur pénètre dans la surface de l'échantillon d'essai.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)