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1. (WO2009085676) APPAREIL DE MESURE OPHTALMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/085676    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/086744
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 15.12.2008
CIB :
A61B 3/10 (2006.01), A61B 3/103 (2006.01), A61B 3/107 (2006.01)
Déposants : BAUSCH & LOMB INCORPORATED [US/US]; One Bausch and Lomb Place Rochester, NY 14604-2701 (US) (Tous Sauf US).
LAI, Ming [US/US]; (US) (US Seulement).
EAGAN, Barry, T. [US/US]; (US) (US Seulement).
WANG, Daozhi [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LAI, Ming; (US).
EAGAN, Barry, T.; (US).
WANG, Daozhi; (US)
Mandataire : POWERS, Jeffrey, B.; Bausch & Lomb Incorporated, One Bausch & Lomb Place, Rochester, NY 14604-2701 (US)
Données relatives à la priorité :
11/961,409 20.12.2007 US
Titre (EN) OPHTHALMIC MEASUREMENT APPARATUS
(FR) APPAREIL DE MESURE OPHTALMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An ophthalmic measurement apparatus having an instrument axis and comprising (A) a central housing comprising at least two reference surfaces and comprising a beam splitter, the instrument axis extending from the central housing, (B) a camera subsystem having a reference surface, the camera subsystem coupled to one of said reference surfaces such that the reference surface to which the subsystem is coupled and the camera subsystem reference surface together operatively align the camera with the instrument axis, and (C) an aberrometer subsystem having a reference surface, the aberrometer subsystem coupled to one of said reference surfaces such that the reference surface to which the aberrometer subsystem is coupled and the reference surface of the aberrometer subsystem together operatively align the aberrometer subsystem with the instrument axis.
(FR)La présente invention concerne un appareil de mesure ophtalmique qui présente un axe d'instrument. Ledit appareil comprend (A) un boîtier central comportant au moins deux surfaces de référence et un séparateur de faisceau, l'axe de l'instrument s'étendant depuis le boîtier central. L'appareil comprend en outre (B) un sous-système de caméra doté d'une surface de référence. Ledit sous-système de caméra est relié à l'une desdites surfaces de référence, de telle sorte que la surface de référence à laquelle le sous-système est relié et la surface de référence du sous-système de caméra alignent ensemble fonctionnellement la caméra sur l'axe de l'instrument. L'appareil comprend en outre (C) un sous-système d'aberromètre présentant une surface de référence. Ledit sous-système d'aberromètre est relié à l'une desdites surfaces de référence, de telle sorte que la surface de référence à laquelle il est relié et la surface de référence du sous-système d'aberromètre alignent ensemble fonctionnellement le sous-système d'aberromètre sur l'axe de l'instrument.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)