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1. (WO2009085558) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR INTÉGRER UN EXAMEN PAR ULTRASONS (UT) À UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES (MMC)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/085558    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/085618
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 05.12.2008
CIB :
G01N 29/265 (2006.01), G01B 17/02 (2006.01), G01B 21/04 (2006.01)
Déposants : GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road, Schenectady, NY 12345 (US) (Tous Sauf US).
LITTLE, Francis, Howard [US/US]; (US) (US Seulement).
WU, Yanyan [CN/US]; (US) (US Seulement).
LI, Jian [CN/US]; (US) (US Seulement).
KRAY, Nicholas, J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LITTLE, Francis, Howard; (US).
WU, Yanyan; (US).
LI, Jian; (US).
KRAY, Nicholas, J.; (US)
Mandataire : MCQUAY, Mardson; General Electric Company, Patent Counsel; Global Patent Operation, PO Box 861; 2 Corporate Drive, Suite 648, Shelton, CT 06484 (US)
Données relatives à la priorité :
11/964,939 27.12.2007 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR INTEGRATING ULTRASOUND INSPECTION (UT) WITH A COORDINATE MEASURING MACHINE (CMM)
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR INTÉGRER UN EXAMEN PAR ULTRASONS (UT) À UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES (MMC)
Abrégé : front page image
(EN)A method is provided for assembling a measurement device for use in measuring a machine component. The method includes providing a coordinate measuring machine (CMM). The method also includes combining ultrasonic inspection (UT) capabilities and CMM capabilities to form an inspection probe. The inspection probe is installed on the CMM so that the inspection probe measures external boundaries of the machine component with the CMM capabilities and substantially simultaneously measures internal boundaries of the machine component with the UT capabilities.
(FR)L'invention concerne un procédé d'assemblage d'un dispositif de mesure destiné à être utilisé pour mesurer un composant de machine. Le procédé comprend le fait de fournir une machine de mesure de coordonnées (MMC). Le procédé comprend également la combinaison de capacités d'examen ultrasonore (UT) et de capacités de MMC pour former une sonde d'examen. La sonde d'examen est installée sur la MMC de façon à mesurer les frontières externes du composant de machine avec les capacités de MMC et mesurer presque simultanément les frontières internes du composant de machine avec les capacités UT.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)