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1. (WO2009084547) CARTE DE SONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/084547    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/073473
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 24.12.2008
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ALPS ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 1-7, Yukigaya-otsukamachi, Ota-ku, Tokyo 1458501 (JP) (Tous Sauf US).
MURATA, Shinji [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MURATA, Shinji; (JP)
Mandataire : NAKAO, Shunsuke; c/o Nakao & Ito Patent Office, 3-5, Uchikanda 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010047 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-340115 28.12.2007 JP
Titre (EN) PROBE CARD
(FR) CARTE DE SONDE
(JA) プローブカード
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a probe card whereby increased probe pin density can be realized, even if perpendicular cantilevers are in a form that is susceptible to bowing and deformation. The probe card (1) of this invention is equipped with a multiplicity of probe pins (3A). A probe pin (3A) is formed with four perpendicular cantilevers (4), which contact ball electrodes (10), and which are arranged equidistantly spaced on the circumference of a virtual circle VC. Here, the probe pins (3A) are arranged with the motion regions (3AR) of the multiplicity of probe pins (3) overlapping one another, and with the pin angles of rotation set to 0° or 45° so that said angles of rotation alternately differ from one another in the X-Y direction.
(FR)L'invention concerne une carte de sonde qui permet d'obtenir une densité accrue de broches de sonde, même si les éléments en porte-à-faux perpendiculaires ont une forme qui est susceptible de s'arquer ou de se déformer. La carte de sonde (1) de la présente invention est équipée d'une multitude de broches de sonde (3A). Une broche de sonde (3A) comporte quatre éléments en porte-à-faux (4) perpendiculaires, qui viennent en contact avec des électrodes en boule (10), et qui sont agencés à égales distances sur la circonférence d'un cercle virtuel VC. Ici, les broches de sonde (3A) sont agencées avec les régions de mouvement (3AR) de la multitude de broches de sonde (3) se chevauchant les unes les autres, et avec les angles de rotation des broches fixés à 0° ou 45° de sorte que lesdits angles de rotation diffèrent alternativement les uns des autres dans la direction X-Y.
(JA)【課題】垂直型カンチレバーが湾曲変形しやすい状態にあってもプローブピンの高密度化を実現することができるプローブカードを提供する。 【解決手段】本発明のプローブカード1は、複数のプローブピン3Aを備えている。プローブピン3Aはボール型電極10と接触する4個の垂直型カンチレバー4を仮想円VCの周上に等間隔配置して形成されている。ここで、複数のプローブピン3の可動領域3ARは相互にオーバーラップしており、それらの回転角を0度または45度に設定してX-Y方向において交互に回転角が異なるようにプローブピン3Aが配設されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)