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1. (WO2009083996) PROCÉDÉ DE COMPENSATION DES RÉPONSES DE SONDES À COURANT DE FOUCAULT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/083996    N° de la demande internationale :    PCT/IN2007/000622
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 31.12.2007
CIB :
G01N 27/90 (2006.01), G06F 19/00 (2006.01)
Déposants : GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345 (US) (Tous Sauf US).
SANGHAMITHRA, Korukonda [IN/IN]; (IN) (US Seulement).
SANDEEP, Dewangan [IN/IN]; (IN) (US Seulement).
PREETI, Pisupati [IN/IN]; (IN) (US Seulement).
MCKNIGHT, William, Stewart [US/US]; (US) (US Seulement).
GAMBRELL, Gigi [US/US]; (US) (US Seulement).
SUH, Ui [US/US]; (US) (US Seulement).
WANG, Changting [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SANGHAMITHRA, Korukonda; (IN).
SANDEEP, Dewangan; (IN).
PREETI, Pisupati; (IN).
MCKNIGHT, William, Stewart; (US).
GAMBRELL, Gigi; (US).
SUH, Ui; (US).
WANG, Changting; (US)
Mandataire : SOLOMON, D., J.; DePenning & DePenning 31 South Bank Road Chennai 600 028 Tamil Nadu (IN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR COMPENSATION OF RESPONSES FROM EDDY CURRENT PROBES
(FR) PROCÉDÉ DE COMPENSATION DES RÉPONSES DE SONDES À COURANT DE FOUCAULT
Abrégé : front page image
(EN)A method of inspecting a component using an eddy current array probe (ECAP) is provided. The method includes scanning a surface of the component with the ECAP, collecting, with the ECAP, a plurality of partial defect responses, transferring the plurality of partial defect responses to a processor, modeling the plurality of partial defect responses as mathematical functions based on at least one of a configuration of elements of the ECAP and a resolution of the elements, and producing a single maximum defect response from the plurality of partial defect responses.
(FR)L'invention concerne un procédé d'inspection d'un composant au moyen d'une sonde à courant de Foucault (ECAP). Le procédé comprend le balayage d'une surface du composant avec l'ECAP, le recueil, avec l'ECAP, d'une pluralité de réponses de défaut partiel, le transfert de la pluralité de réponses de défaut partiel à un processeur, la modélisation de la pluralité de réponses de défaut partiel comme des fonctions mathématiques sur la base d'une configuration d'éléments de l'ECAP et/ou d'une résolution des éléments, et la production d'une seule réponse de défaut maximal à partir de la pluralité de réponses de défaut partiel.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)