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1. (WO2009083814) DISPOSITIF DE DÉTECTION MICROÉLECTRONIQUE POUR LA DÉTECTION DE PARTICULES CIBLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/083814    N° de la demande internationale :    PCT/IB2008/054541
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 31.10.2008
CIB :
G01N 21/17 (2006.01), G01N 21/55 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
BRULS, Dominique, M. [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
SCHLEIPEN, Johannes, J., H., B. [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
KAHLMAN, Josephus, A., H., M. [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
PRINS, Menno, W., J. [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : BRULS, Dominique, M.; (NL).
SCHLEIPEN, Johannes, J., H., B.; (NL).
KAHLMAN, Josephus, A., H., M.; (NL).
PRINS, Menno, W., J.; (NL)
Mandataire : VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus 44, NL-5656 AE Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
07123741.6 20.12.2007 EP
Titre (EN) MICROELECTRONIC SENSOR DEVICE FOR THE DETECTION OF TARGET PARTICLES
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION MICROÉLECTRONIQUE POUR LA DÉTECTION DE PARTICULES CIBLES
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a microelectronic sensor device for the examination of target particles (1) that are bound to binding sites (3) at the binding surface (12) of a carrier (11). In a preferred embodiment, an input light beam (Ll) is transmitted into the carrier (11), where a frustrated total internal reflection (FTIR) takes place at the binding surface (12). The amount of light in a resulting output light beam (L2) is detected by a light detector (31) and provides information about the presence of target particles at the binding surface. Moreover, an actuation unit (50) induces movements of the bound target particles (1) by an interaction with a magnetic field (B) or an electric field, particularly with a given modulation frequency (COIn), such that by a demodulation of the detector signal (S) effects of the target particles can be distinguished from background.
(FR)L'invention concerne un dispositif de détection microélectronique pour examiner des particules cibles (1) qui sont liées à des emplacements de liaison (3) sur la surface de liaison (12) d'un support (11). Dans un mode de réalisation préférentiel, un faisceau lumineux d'entrée (Ll) est émis dans le support (11) où il se produit une réflexion interne totale contrecarrée (FTIR) au niveau de la surface de liaison (12). La quantité de lumière dans un faisceau lumineux de sortie résultant (L2) est détectée par un détecteur de lumière (31) et fournit des informations sur la présence de particules cibles sur la surface de liaison. En outre, une unité d'actionnement (50) induit des mouvements des particules cibles (1) liées, notamment à une fréquence de modulation (CO1n) donnée, ce qui permet de distinguer les effets des particules cibles de l'arrière-plan par une démodulation du signal (S) du détecteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)