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1. (WO2009083631) PROCÉDÉ D'OBTENTION DE RÉSEAUX DE DIFFRACTION DE PHASE DANS UN SUBSTRAT PAR ABLATION PAR LASER D'UNE CIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/083631    N° de la demande internationale :    PCT/ES2008/070241
Date de publication : 09.07.2009 Date de dépôt international : 23.12.2008
CIB :
C23C 14/04 (2006.01), C23C 14/28 (2006.01), B23K 26/02 (2006.01), B23K 26/12 (2006.01), G02B 5/18 (2006.01)
Déposants : UNIVERSIDADE DE SANTIAGO DE COMPOSTELA [ES/ES]; Centro de Innovación e Transferencia de Tecnoloxía Edificio CACTUS - Campus sur E-15782 Santiago de Compostela (ES) (Tous Sauf US).
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS (CSIC) [ES/ES]; OFICINA DE TRANSFERENCIA DE TECNOLOGIA C/ Serrano, 142 E-28006 MADRID (ES) (Tous Sauf US).
FLORES ARIAS, M. Teresa [ES/ES]; (ES) (US Seulement).
CASTELO PORTA, Antonio [ES/ES]; (ES) (US Seulement).
GÓMEZ-REINO CARNOTA, Carlos [ES/ES]; (ES) (US Seulement).
DE LA FUENTE LEIS, German [ES/ES]; (ES) (US Seulement)
Inventeurs : FLORES ARIAS, M. Teresa; (ES).
CASTELO PORTA, Antonio; (ES).
GÓMEZ-REINO CARNOTA, Carlos; (ES).
DE LA FUENTE LEIS, German; (ES)
Données relatives à la priorité :
P 2007 03475 28.12.2007 ES
Titre (EN) METHOD FOR OBTAINING PHASE DIFFRACTION GRATINGS IN A SUBSTRATE BY LASER ABLATION OF A TARGET
(ES) PROCEDIMIENTO DE OBTENCIÓN DE REDES DE DIFRACCIÓN DE FASE EN UN SUSTRATO MEDIANTE ABLACIÓN LÁSER DE UN BLANCO
(FR) PROCÉDÉ D'OBTENTION DE RÉSEAUX DE DIFFRACTION DE PHASE DANS UN SUBSTRAT PAR ABLATION PAR LASER D'UNE CIBLE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for obtaining phase diffraction gratings in a substrate (2) by laser ablation of a target (1), in which a phase diffraction grating pattern is defined using computer means. The method comprises the following steps in which: the beam (3) of a laser (4) is focused on a target (1) in a working area for the ablation of said target (1), the beam (3) is oriented using a set of galvanometers (5) in order to produce the phase diffraction grating pattern on the target (1), and the beam (3) is homogenised using a flat field lens (6) in order to obtain a homogeneous power density in the working area. Using the aforementioned method, the phase diffraction grating can be produced in a single phase without the presence of external elements. The method is non-polluting, simple, quick and precise.
(ES)La invención se refiere a un procedimiento de obtención de redes de difracción de fase en un sustrato (2) mediante ablación láser de un blanco (1), siendo definido un patrón de red de difracción de fase mediante medios informáticos. El procedimiento propuesto consta de las etapas de focalizar un haz (3) de un láser (4) en un blanco (1) en un área de trabajo para la ablación de dicho blanco (1), orientar mediante un conjunto de galvanómetros (5) el haz (3) para realizar el patrón de red de difracción de fase sobre el blanco (1), homogeneizar el haz (3) con la ayuda de una lente de campo plano (6) para lograr una densidad de potencia homogénea en el área de trabajo. Con este procedimiento, la red de difracción de fase se puede realizar en una única fase, sin la presencia de elementos externos, siendo un procedimiento no contaminante, sencillo, rápido y preciso.
(FR)L'invention concerne un procédé d'obtention de réseaux de diffraction de phase dans un substrat (2) par ablation par laser d'une cible (1), un modèle de réseau de diffraction de phase étant défini à l'aide de moyens informatiques. Le procédé de l'invention fait appel aux étapes consistant à: focaliser un faisceau (3) d'un laser (4) sur une cible (1) dans une zone de travail pour l'ablation de ladite cible (1), orienter au moyen d'un ensemble de galvanomètres (5) le faisceau (3) afin d'obtenir le modèle de réseau de diffraction de phase sur la cible (1), homogénéiser le faisceau (3) à l'aide d'une lentille à champ plat (6) afin d'obtenir une densité de puissance homogène dans la zone de travail. Avec ledit procédé, le réseau de diffraction de phase peut être obtenu en une seule étape, sans la présence d'éléments externes, ledit procédé étant non contaminant, simple, rapide et précis.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)