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1. (WO2009081522) APPAREIL D'ESSAI ET DISPOSITIF DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/081522    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/003532
Date de publication : 02.07.2009 Date de dépôt international : 28.11.2008
CIB :
G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
WATANABE, Hiroyoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : WATANABE, Hiroyoshi; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku Tokyo 1631105 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-331107 21.12.2007 JP
Titre (EN) TEST APPARATUS AND MEASUREMENT DEVICE
(FR) APPAREIL D'ESSAI ET DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 試験装置および測定装置
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a test apparatus that tests a device being tested, and which test apparatus is equipped with a performance board on which the device being tested is mounted, a power supply unit that is disposed external to the performance board, receives via a sensing wire an applied voltage to be impressed on the device being tested, and regulates the power supply voltage provided to the device being tested based on the applied voltage that has been received, a voltage level measurement part that receives the applied voltage via a sensing wire inside the power supply unit and measures the voltage value of the applied voltage that has been received, and a decision part that determines the compliance or noncompliance of the device being tested based on the measurement result in the voltage level measurement part.
(FR)La présente invention concerne un appareil d'essai qui effectue l'examen d'un dispositif mis à l'essai, ledit appareil étant équipé d'une carte de performance sur laquelle est monté le dispositif mis à l'essai ; d'une unité d'alimentation qui est disposée à l'extérieur de la carte de performance, qui reçoit par l'intermédiaire d'un câble de détection une tension appliquée à imprimer au dispositif mis à l'essai et qui régule la tension d'alimentation fournie au dispositif mis à l'essai sur la base de la tension appliquée qui a été reçue ; d'une partie mesure du niveau de tension qui reçoit la tension appliquée par l'intermédiaire d'un câble de détection à l'intérieur de l'unité d'alimentation et qui mesure la valeur de tension de la tension appliquée qui a été reçue ; et d'une partie décision qui détermine la conformité ou la non-conformité du dispositif mis à l'essai, sur la base du résultat de la mesure de la partie mesure du niveau de tension.
(JA) 被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを載置するパフォーマンスボードと、パフォーマンスボードの外部に設けられ、被試験デバイスに印加される印加電圧をセンス配線を介して受け取り、受け取った印加電圧に基づいて被試験デバイスに与える電源電圧を調整する電源ユニットと、印加電圧を、電源ユニットの内部においてセンス配線を介して受け取り、受け取った印加電圧の電圧値を測定する電圧レベル測定部と、電圧レベル測定部における測定結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)