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1. (WO2009081160) LASER ACCORDABLE À CAVITÉ EXTERNE AVEC ÉTALON À LAME D'AIR COMPRENANT DES COINS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/081160    N° de la demande internationale :    PCT/GB2008/004253
Date de publication : 02.07.2009 Date de dépôt international : 22.12.2008
CIB :
G02B 26/00 (2006.01), H01S 3/106 (2006.01), H01S 5/14 (2006.01), H01S 3/08 (2006.01)
Déposants : RENISHAW PLC [GB/GB]; New Mills Wotton-under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB) (Tous Sauf US).
COPNER, Nigel [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
EL DAH DAH, Nayla [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : COPNER, Nigel; (GB).
EL DAH DAH, Nayla; (GB)
Mandataire : DUNN, P.E.; Renishaw plc Patent Department New Mills Wotton-under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB)
Données relatives à la priorité :
0724874.3 20.12.2007 GB
Titre (EN) EXTERNAL CAVITY TUNABLE LASER WITH AN AIR GAP ETALON COMPRISING WEDGES
(FR) LASER ACCORDABLE À CAVITÉ EXTERNE AVEC ÉTALON À LAME D'AIR COMPRENANT DES COINS
Abrégé : front page image
(EN)A tunable narrow linewidth laser is provided, wherein an adjustable etalon structure (20) is employed to simultaneously tune the wavelength of the laser transmission and the length of the laser cavity. The etalon structure (20) is an effective, relatively thick shear plate comprised of transparent matched wedge-shaped substrates (24a, 24b) and a pair of parallel, partially transmissive mirrors (22a, 22b) with a space therebetween. Rotation of the etalon structure (20) relative to the laser input changes the angle of incidence to the first substrate (24a) and the etalon angle, thereby changing the wavelength of the laser light and also changing the length of the external laser cavity. Thus, reliable frequency tuning is achieved, without mode hopping. The invention is defined in terms of the more general concept that mode hopping during frequency tuning can be eliminated by changing the wavelength and the length of the laser cavity simultaneously by selectively altering the angle of incidence of the laser input on a wavelength discriminating structure, such as an etalon structure, positioned within the optical path of a laser system.
(FR)L'invention concerne un laser accordable à largeur de raie étroite, une structure d'étalonnage ajustable (20) étant utilisée pour accorder simultanément la longueur d'onde de la transmission laser et la longueur de la cavité laser. La structure d'étalonnage (20) est une plaque de cisaillement efficace relativement épaisse composée de substrats cunéiformes transparents adaptés (24a, 24b) et d'une paire de miroirs parallèles partiellement transmissifs (22a, 22b) entre lesquels se trouve un espace. La rotation de la structure d'étalonnage (20) par rapport à l'entrée du laser modifie l'angle d'incidence sur le premier substrat (24a) et l'angle d'étalonnage, ce qui modifie la longueur d'onde de la lumière laser et également la longueur de la cavité laser externe. La fréquence peut donc être accordée de manière fiable sans saut de mode. Le concept général de l'invention est que le saut de mode peut être éliminé lors de l'accordage de la fréquence en modifiant simultanément la longueur d'onde et la longueur de la cavité laser par le biais de la modification sélective de l'angle d'incidence de l'entrée du laser sur une structure discriminatrice de longueur d'onde, comme une structure d'étalonnage, placée sur le chemin optique d'un système laser.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)