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PATENTSCOPE

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1. (WO2009080998) MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/080998    N° de la demande internationale :    PCT/FR2008/052279
Date de publication : 02.07.2009 Date de dépôt international : 11.12.2008
CIB :
G01N 21/55 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01), G01B 9/04 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON [FR/FR]; 46 allee d'Italie F-69364 Lyon Cedex 07 (FR) (Tous Sauf US).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3 rue Michel Ange F-75794 Paris Cedex 16 (FR) (Tous Sauf US).
BERGUIGA, Lofti [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
ARGOUL, Françoise [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : BERGUIGA, Lofti; (FR).
ARGOUL, Françoise; (FR)
Mandataire : THIBAULT, Jean-Marc; (FR)
Données relatives à la priorité :
0759716 11.12.2007 FR
Titre (EN) HIGH-RESOLUTION SURFACE PLASMON MICROSCOPE WITH HETERODYNE INTERFEROMETRY IN RADIAL POLARIZATION MODE
(FR) MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a high-resolution scanning surface-plasmon microscope, comprising a coherent light source (LG) and a medium for coupling and confining a surface plasmon, comprising an objective (O, 0M) of large numerical aperture, an immersion oil (Hi) and a glass slide (Gs). A metal layer (Ms) covers one surface of the glass slide (Gs). The microscope also includes a Twyman-Green interferometer operating in heterodyne mode, this being placed between the light source and the coupling medium, and also means (PL1, PL2, EC) for scanning the metal layer using a light beam, and means (PD) for detecting the beam output by the interferometer, said means being connected to means (S, F, DTec, COMP) for processing and forming an image from this beam. In accordance with the invention, at least one polarization converter (CP), for converting a linear polarization of the light beams (L) emitted by the light source (LG) into a radial polarization, is placed between the light source and the interferometer.
(FR)La présente invention concerne un microscope à plasmon de surface à balayage à haute résolution comportant une source (LG) de lumière cohérente, et un milieu de couplage et de confinement d'un plasmon de surface comportant un objectif (O, 0M) à grande ouverture numérique, une huile à immersion (Hi) et une lamelle de verre (Gs). Une couche métallique (Ms) recouvre une surface de la lamelle de verre (Gs). le microscope comporte également un interféromètre de Twyman-Green en mode hétérodyne est placé entre la source lumineuse et le milieu de couplage ainsi que des moyens de balayage (PL1, PL2, EC) de la couche métallique à l'aide d'un faisceau lumineux, et des moyens de détection (PD) du faisceau issu de l'interféromètre reliés à des moyens de traitement (S, F, DTec, COMP) et de formation d'une image à partir de ce faisceau. Conformément à l'invention, au moins un convertisseur de polarisation linéaire en polarisation radiale (CP) des faisceaux lumineux (L) émis par la source lumineuse (LG) est disposé entre la source lumineuse et l'interféromètre.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)