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1. (WO2009038803) UTILISATION DES STATISTIQUES POUR DÉTERMINER L'ÉTALONNAGE D'INSTRUMENTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/038803    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/010965
Date de publication : 26.03.2009 Date de dépôt international : 22.09.2008
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.04.2009    
CIB :
G01D 18/00 (2006.01), G01F 25/00 (2006.01)
Déposants : SIEMENS INDUSTRY, INC. [US/US]; 3333 Old Milton Parkway Alpharetta, GA 30005-4437 (US) (Tous Sauf US).
COLLINS, Daniel J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : COLLINS, Daniel J.; (US)
Mandataire : DE LA ROSA, Jose; Siemens Corporation- Intellectual Property Dept., 170 Wood Avenue South, Iselin, New Jersey 08830 (US).
MORGAN, Marc; P.O. Box 22 16 34, 80506 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
60/973,892 20.09.2007 US
60/974,149 21.09.2007 US
60/974,133 21.09.2007 US
60/974,142 21.09.2007 US
12/233,985 19.09.2008 US
Titre (EN) USE OF STATISTICS TO DETERMINE CALIBRATION OF INSTRUMENTS
(FR) UTILISATION DES STATISTIQUES POUR DÉTERMINER L'ÉTALONNAGE D'INSTRUMENTS
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates generally to statistics and calibration of instruments. More particularly, the invention encompasses the use of statistics to determine calibration of instruments. The present invention is also directed to a remote system for determination of re-calibration of instruments. The present invention also teaches the use of multiple statistical tests to determine need for calibration. The invention also includes a novel use of tests, such as, the F-Test, the Z-Test, to determine need for calibration. Furthermore, this invention relates to an alternate instrument scheme consisting of the use of redundant sensors and statistical analysis to avoid unnecessary calibrations and to detect sensors that are starting to drift before they go out of calibration. With this invention reduced calibration cost, increased data integrity, and reduced off-spec uncertainty is achieved
(FR)La présente invention concerne, de façon générale, les statistiques et l'étalonnage d'instruments. Plus précisément, l'invention concerne l'utilisation des statistiques pour déterminer l'étalonnage d'instruments. La présente invention concerne également un système à distance de détermination du réétalonnage d'instruments. La présente invention concerne également l'utilisation de multiples tests statistiques pour déterminer si un étalonnage s'avère nécessaire. L'invention concerne encore une utilisation inédite de tests, par exemple du test F, du test Z, pour déterminer si un étalonnage s'avère nécessaire. En outre, la présente invention concerne un autre procédé concernant des instruments et consistant en l'utilisation de capteurs redondants et d'une analyse statistique pour éviter les étalonnages inutiles et pour détecter les capteurs qui commencent à dériver avant qu'ils ne soient plus du tout étalonnés. Grâce à la présente invention, le coût de l'étalonnage baisse, l'intégrité des données s'améliore et l'incertitude relative à tout ce qui est non conforme est réduite.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)