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1. (WO2009032238) ANALYSE DU CHLORURE DANS LES BAINS ACIDES DE CUIVRAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/032238    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/010308
Date de publication : 12.03.2009 Date de dépôt international : 02.09.2008
CIB :
C25D 21/12 (2006.01), G01N 27/42 (2006.01)
Déposants : PAVLOV, Michael [US/US]; (US).
SHALYT, Eugene [US/US]; (US).
BRATIN, Peter [US/US]; (US)
Inventeurs : PAVLOV, Michael; (US).
SHALYT, Eugene; (US).
BRATIN, Peter; (US)
Mandataire : TENCH, D. Morgan; 1180 Corte Riviera, Camarillo, CA 93010 (US)
Données relatives à la priorité :
11/899,787 04.09.2007 US
Titre (EN) CHLORIDE ANALYSIS IN ACID COPPER PLATING BATHS
(FR) ANALYSE DU CHLORURE DANS LES BAINS ACIDES DE CUIVRAGE
Abrégé : front page image
(EN)The chloride concentration in an acid copper plating bath is determined from the chloride oxidation current measured under controlled hydrodynamic conditions at a noble metal electrode using specific voltammetric parameters. The measurement is made directly on the undiluted plating bath so that the chloride measurement is fast and no waste stream is generated.
(FR)La concentration en chlorure dans un bain acide de cuivrage est déterminée à partir du courant d'oxydation du chlorure mesuré sur une électrode en métal noble dans des conditions hydrodynamiques contrôlées, en utilisant des paramètres voltamétriques spécifiques. La mesure est réalisée directement sur le bain de revêtement non dilué, de manière à ce que la mesure du chlorure soit rapide et qu'il n'y ait pas de génération de flux de déchets.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)