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1. (WO2009031129) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE MATÉRIAU MAGNÉTIQUE, ET ANALYSEUR COMPORTANT CE DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/031129    N° de la demande internationale :    PCT/IB2008/055606
Date de publication : 12.03.2009 Date de dépôt international : 05.09.2008
CIB :
G01N 15/06 (2006.01), G01N 27/72 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01), G01N 27/00 (2006.01)
Déposants : MAGNISENSE TECHNOLOGY LIMITED [CY/CY]; Gr. Xenopoulou 17 Totalserve House, Limassol (CY) (Tous Sauf US).
LENGLET, Luc [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : LENGLET, Luc; (FR)
Mandataire : COLOMBET, Alain; Cabinet Lavoix, 62 rue de Bonnel, F-69448 Lyon Cedex 03 (FR)
Données relatives à la priorité :
60/970,678 07.09.2007 US
07 57437 07.09.2007 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR ANALYSING A MAGNETIC MATERIAL, AND ANALYSER INCLUDING THE DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE MATÉRIAU MAGNÉTIQUE, ET ANALYSEUR COMPORTANT CE DISPOSITIF
Abrégé : front page image
(EN)This method of analysing a magnetic material (6) includes : b) the construction (48) of a signature S(H) of the magnetic material formed from at least two points S(H)P, this construction including obtaining the value of each point S (H)p by measuring, over each period fraction, the amplitude and possibly the phase of a harmonic of the magnetic field induced in the magnetic material, said amplitude and phase being obtained in response only to an excitation during this period fraction, the harmonic having a frequency nfH, where n is a non-zero positive integer; and c) the identification (72) and/or the determination (80; 90) of the mass of the magnetic material from several points of the constructed signature S (H).
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse de matériau magnétique (6) qui consiste: b) à construire (48) une signature S(H) de matériau magnétique formée à partir d'au moins deux points S(H)P, cette construction consistant à obtenir la valeur de chaque point S (H)p par mesure, pour chaque fraction de période, de l'amplitude et de la possibilité de phase d'une harmonique de champ magnétique induite dans le matériau magnétique, cette amplitude et cette phase étant obtenues uniquement en réponse à une excitation durant cette fraction de période, l'harmonique possédant une fréquence nfH, n prenant la valeur d'un nombre entier positif excepté 0; et c) à identifier (72) et/ou à déterminer (80; 90) la masse du matériau magnétique à partir de plusieurs points de la signature construite S (H).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)