WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009029912) CAPTEUR OPTIQUE DE DEPLACEMENT LINEAIRE ET ROTATOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/029912    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/074949
Date de publication : 05.03.2009 Date de dépôt international : 30.08.2008
CIB :
G01B 11/02 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01)
Déposants : MICROSTRAIN, INC. [US/US]; 310 Hurricane Lane, Williston, Vermont 05495 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : CHURCHILL, David L; (US).
ARMS, Steven W.; (US)
Mandataire : LEAS, James Marc; Law Office of James Marc Leas, 37 Butler Drive, S. Burlington, Vermont 05403 (US)
Données relatives à la priorité :
60/968,992 30.08.2007 US
Titre (EN) OPTICAL LINEAR AND ROTATION DISPLACEMENT SENSOR
(FR) CAPTEUR OPTIQUE DE DEPLACEMENT LINEAIRE ET ROTATOIRE
Abrégé : front page image
(EN)A system includes a measuring tool, a fixture, and a rotatable target. The measuring tool includes a light source, an imaging device, and an electronic circuit. The fixture allows the rotatable target to rotate about an axis. The rotatable target includes a surface having microscopic asperities. The imaging device is mounted to provide a sequence of images derived from said microscopic asperities. The electronic circuit is connected to the imaging device for measuring rotation of the rotatable target from the sequence of images.
(FR)L'invention concerne un système comprenant un instrument de mesure, une pièce de fixation et une cible rotative. L'instrument de mesure comprend une source de lumière, un dispositif d'imagerie et un circuit électronique. La pièce de fixation permet à la cible rotative de pivoter autour d'un axe. La cible rotative comprend une surface à aspérités microscopiques. Le dispositif d'imagerie est monté de sorte à fournir une séquence d'images des aspérités microscopiques. Le circuit électronique est connecté au dispositif d'imagerie pour mesurer la rotation de la cible rotative à partir de la séquence d'images.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)