WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009028122) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/028122    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/000813
Date de publication : 05.03.2009 Date de dépôt international : 28.03.2008
CIB :
G02F 1/1368 (2006.01)
Déposants : SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (Tous Sauf US).
YOSHIDA, Hiroshi; (US Seulement).
NAKAJIMA, Mutsumi; (US Seulement)
Inventeurs : YOSHIDA, Hiroshi; .
NAKAJIMA, Mutsumi;
Mandataire : MAEDA, Hiroshi; Osaka-Marubeni Bldg. 5-7, Hommachi 2-chome Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410053 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-223776 30.08.2007 JP
Titre (EN) DISPLAY DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 表示装置及びその製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A method of manufacturing a display device includes a correction process wherein brightness point defect pixels are corrected by displaying them in black. In the correction process, the drains of TFTs in such brightness point defect pixels are short-circuited to a gate interconnection, and a semiconductor layer portion in each TFT is cut so as to electrically isolate a source interconnection and the gate interconnection in each brightness point defect pixel.
(FR)L'invention porte sur un procédé de fabrication d'un dispositif d'affichage qui comprend un procédé de correction, dans lequel des pixels à défaut de point de brillance sont corrigés par leur affichage en noir. Dans le procédé de correction, les drains de transistors en couches minces (TFT) dans de tels pixels à défaut de point de brillance sont court-circuités sur une interconnexion de grille, et une partie de couche semi-conductrice dans chaque TFT est coupée de façon à isoler électriquement une interconnexion de source et l'interconnexion de grille dans chaque pixel à défaut de point de brillance.
(JA) 輝点欠陥となる画素を黒表示化して修正する修正工程を含み、修正工程では、輝点欠陥となる画素におけるTFTのドレイン部をゲート配線に短絡させ、且つ、輝点欠陥となる画素において、ソース配線とゲート配線とが電気的に分離するように、TFTの半導体層部を切断する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)