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1. (WO2009027455) COMMUTATEUR INDUCTIF DE REGLAGE ET DE COMMUTATION POUR DES APPLICATIONS DANS DES ENVIRONNEMENTS SPECIAUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/027455    N° de la demande internationale :    PCT/EP2008/061280
Date de publication : 05.03.2009 Date de dépôt international : 28.08.2008
CIB :
H03K 17/95 (2006.01)
Déposants : M.D. MICRO DETECTORS S.P.A. [IT/IT]; Via Santa Caterina, 235 I-41122 Modena (IT) (Tous Sauf US).
DEL MONTE, Mauro [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : DEL MONTE, Mauro; (IT)
Mandataire : MODIANO, Micaela; Modiano Gardi Patents Sas Via Meravigli, 16 I-20123 Milano (IT)
Données relatives à la priorité :
MO2007A000275 31.08.2007 IT
Titre (EN) INDUCTIVE SWITCH FOR ADJUSTMENT AND SWITCHING FOR APPLICATIONS IN SPECIAL ENVIRONMENTS
(FR) COMMUTATEUR INDUCTIF DE REGLAGE ET DE COMMUTATION POUR DES APPLICATIONS DANS DES ENVIRONNEMENTS SPECIAUX
Abrégé : front page image
(EN)An inductive programming switch for applications in special environments, comprising an inductive component and a container in which the inductive component is accommodated proximate to a wall of the container, the inductive component being connected to an electronic evaluation circuit, which is adapted to detect variations of parameters of the inductive component caused by the approach of a metallic object to the wall, the evaluation circuit being adapted to detect and identify a sequence of approach/spacing of the metallic object with respect to the wall and for modifying its functional parameters according to the sequence.
(FR)L'invention concerne un commutateur de programmation inductif pour des applications dans des environnements spéciaux. Ce commutateur comprend un composant inductif et un contenant dans lequel est reçu le composant inductif à proximité d'une paroi. Le composant inductif est connecté à un circuit d'évaluation électronique conçu pour détecter des variations de paramètres du composant inductif entraînées par l'approche d'un objet métallique de la paroi, le circuit d'évaluation étant conçu pour détecter et identifier une séquence d'approche/éloignement de l'objet métallique par rapport à la paroi et pour modifier ses paramètres fonctionnels en fonction de cette séquence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)