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1. (WO2008129820) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉCHARGE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE DÉCHARGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/129820    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/000696
Date de publication : 30.10.2008 Date de dépôt international : 24.03.2008
CIB :
B23H 7/20 (2006.01), B23H 1/02 (2006.01)
Déposants : SODICK CO., LTD. [JP/JP]; 12-1, Nakamachidai 3-chome, Tsuzuki-ku Yokohama-shi, Kanagawa 2248522 (JP) (Tous Sauf US).
KANEKO, Yuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HARADA, Takenori [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KANEKO, Yuji; (JP).
HARADA, Takenori; (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-073864 22.03.2007 JP
Titre (EN) DISCHARGE DETECTION METHOD AND DISCHARGE PROCESSING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉCHARGE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE DÉCHARGE
(JA) 放電検出方法及び放電加工装置
Abrégé : front page image
(EN)A discharge processing device includes: a gate signal generating device (2) for generating a gate signal (Gate); a power source for applying voltage to a processing gap (12) formed between a tool electrode (11) and a work (10) when the gate signal is ON; gap voltage detectors (13, 14) for detecting a gap voltage (Vgap) in the processing gap; and a discharge detection device (30) for providing a discharge detection signal (spark) indicating discharge to the gate signal generating device (2). The discharge detection device (30) has a counter (46) generating a sample clock (sample_CLK) having a frequency higher than the gate signal and a comparator (42) which inputs a gap voltage for each sample clock and judges whether the drop of the gap voltage is greater than a predetermined voltage difference. According to the output signal (A < B) of the comparator, a discharge detection signal is generated.
(FR)Selon l'invention, un dispositif de traitement de décharge comprend: un dispositif de génération de signal de porte (2) destiné à générer un signal de porte (Gate); un bloc d'alimentation destiné à appliquer une tension sur un intervalle de traitement (12) formé entre une électrode-outil et une pièce à travailler (10) lorsque le signal de porte est sous tension; des détecteurs de tension d'intervalle (13, 14) destinés à détecter une tension d'intervalle (Vgap) dans l'intervalle de traitement; et un dispositif de détection de décharge (30) destiné à fournir un signal de détection de décharge (spark) indiquant la décharge au dispositif de génération de signal de porte (2). Le dispositif de détection de décharge (30) comprend un compteur (46) générant une horloge d'échantillonnage (sample_CLK) à fréquence supérieure au signal de porte et un comparateur (42) qui saisit une tension d'intervalle pour chaque horloge d'échantillonnage et qui évalue si l'écart de tension d'intervalle est supérieur à la différence de tension prédéfinie. Un signal de détection de décharge est généré en fonction du signal de sortie (A < B) du comparateur.
(JA)ゲート信号(Gate)を発生するゲート信号発生装置(2)と、ゲート信号がオンであるとき工具電極(11)とワーク(10)間に形成される加工間隙(12)に電圧を印加する電源と、加工間隙の間隙電圧(Vgap)を検出する間隙電圧検出器(13、14)と、放電を示す放電検出信号(spark)をゲート信号発生装置へ提供する放電検出装置(30)を有する放電加工装置。放電検出装置(30)は、ゲート信号よりも高い周波数をもつサンプルクロック(sample_CLK)を発生するカウンタ(46)と、サンプルクロック毎に間隙電圧を入力し間隙電圧の下降が所定の電圧差より大きいことを判断する比較器(42)を含む。その比較器の出力信号(A<B)に応じて放電検出信号は発生する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)