WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008126988) PROCÉDÉ D'INSPECTION UTILISANT UN DÉTECTEUR ÉLECTRO-OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126988    N° de la demande internationale :    PCT/KR2008/001311
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 07.03.2008
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
Déposants : OKINS ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 6F., Byucksan Sunyoung Technopia, 196-5, Ojeon-dong, Uiwang-si, Kyunggi-do 437-070 (KR) (Tous Sauf US).
JUN, Jin Kook [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
JEON, Hyung Il [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Young Hoon [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
PARK, Young Shik [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
YOON, Young Ryong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
SEO, Myung Gi [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
YOON, Dae Joong [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : JUN, Jin Kook; (KR).
JEON, Hyung Il; (KR).
KIM, Young Hoon; (KR).
PARK, Young Shik; (KR).
YOON, Young Ryong; (KR).
SEO, Myung Gi; (KR).
YOON, Dae Joong; (KR)
Mandataire : JO, Hee Won; Yilhae Int'l Patent & Law Firm, No. 301, Dongmyeong Bldg, 742-29, Yeoksam-1dong, Gangnam-gu, Seoul 135-924 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2007-0037317 17.04.2007 KR
10-2007-0066928 04.07.2007 KR
10-2007-0066929 04.07.2007 KR
10-2007-0072046 19.07.2007 KR
10-2007-0120674 26.11.2007 KR
10-2007-0120673 26.11.2007 KR
10-2007-0129657 13.12.2007 KR
Titre (EN) INSPECTING METHOD USING AN ELECTRO OPTICAL DETECTOR
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION UTILISANT UN DÉTECTEUR ÉLECTRO-OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An inspecting method using an electro-optical detecting device is disclosed. The electro-optical detecting device includes: an upper substrate and a lower substrate; a nematic liquid crystal layer interposed between the upper substrate and the lower substrate; a transparent electrode interposed between the nematic liquid crystal layer and the upper substrate, the transparent electrode connected to a device under test (DUT) via a power supply; a polarizing plate located over the nematic liquid crystal layer; and a reflecting plate located under the nematic liquid crystal layer. A method using the electro-optical detecting device includes applying a voltage between the transparent electrode and the DUT to generate an electric field across the liquid crystal layer; illuminating the detector and capturing an image of the detector using the light reflected from the detector; and determining the DUT has some defects from the image of the detector by an abnormal electric field generated between the transparent electrode and the DUT.
(FR)L'invention concerne un procédé d'inspection utilisant un dispositif de détection électro-optique. Le dispositif de détection électro-optique comprend: un substrat supérieur et un substrat inférieur; une couche de cristaux liquides nématiques interposée entre le substrat supérieur et le substrat inférieur; une électrode transparente interposée entre la couche de cristaux liquides nématiques et le substrat supérieur, l'électrode transparente étant raccordée à un dispositif en essai (DET) par l'intermédiaire d'une alimentation électrique; une plaque polarisante située au-dessus de la couche de cristaux liquides nématiques; et une plaque réfléchissante située sous la couche de cristaux liquides nématiques. Un procédé utilisant le dispositif de détection électro-optique comprend les étapes consistant à: appliquer une tension entre l'électrode transparente et le DET afin de générer un champ électrique à travers la couche de cristaux liquides; éclairer le détecteur et capturer une image du détecteur en utilisant la lumière réfléchie par le détecteur; et déterminer si le DET présente certains défauts d'après l'image du détecteur par un champ électrique anormal généré entre l'électrode transparente et le DET.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)