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1. (WO2008126955) DISPOSITIF D'INSPECTION DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126955    N° de la demande internationale :    PCT/KR2007/001953
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 20.04.2007
CIB :
H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : JT CORPORATION [KR/KR]; 236, Singal-ri, Jiksan-eup, Seobuk-gu, Cheonan-si, Chungcheongnam-do 331-814 (KR) (Tous Sauf US).
YOU, Hong Jun [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
JANG, Won Jin [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : YOU, Hong Jun; (KR).
JANG, Won Jin; (KR)
Mandataire : LEE, Sang-Bum; B & IP Patent & Law Firm, 5th Fl., Christine Bldg., 720-21, Yeoksam 2-dong, Gangnam-gu, Seoul 135-920 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2007-0036314 13.04.2007 KR
Titre (EN) APPARATUS FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for inspecting semiconductor device, relating to an apparatus for inspecting semiconductor device, and more particularly to an apparatus for inspecting semiconductor device for inspecting upper and lower external appearance of semiconductor device, the apparatus comprising: a transferring tool for transferring a plurality of semiconductor devices picked up by a plurality of pickers for picking up semiconductor device, the plurality of pickers being arranged in m columnsxn rows (m and n are a natural number not less than 2); and an image acquisition unit for acquiring image of lower external appearance of a plurality of semiconductor devices transferred by the transferring tool in order to inspect external state for semiconductor devices by analyzing image of lower external appearance of semiconductor devices, is disclosed.
(FR)dispositif d'inspection de dispositif à semi-conducteurs, et plus précisément ce dispositif pour l'inspection d'apparence externe supérieure et inférieure d'un dispositif à semi-conducteurs, le dispositif d'inspection comprenant un outil de transfert de plusieurs dispositifs à semi-conducteurs attrapés par plusieurs appareils de préhension de dispositif à semi-conducteurs, ces appareils étant disposés en m colonnes et n rangées ( m et n sont un entier naturel qui n'est pas inférieur à 2); et une unité d'acquisition d'image de ladite apparence externe inférieure de plusieurs dispositifs à semi-conducteurs transférés par l'outil, aux fins d'inspection de l'état externe des dispositifs à semi-conducteurs, par analyse de l'image de ladite apparence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)