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1. (WO2008126471) CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126471    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/052681
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 19.02.2008
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G06F 11/22 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP) (Tous Sauf US).
INOUE, Hiroaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAGI, Masamichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : INOUE, Hiroaki; (JP).
TAKAGI, Masamichi; (JP)
Mandataire : MIYAZAKI, Teruo; 8th Floor, 16th Kowa Bldg., 9-20, Akasaka 1-chome Minato-ku, Tokyo 1070052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-100730 06.04.2007 JP
Titre (EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD
(FR) CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 半導体集積回路およびその試験方法
Abrégé : front page image
(EN)A semiconductor integrated circuit comprises a plurality of cores (99) connected with a mutual connection network (1000) and a test controller (500) which is connected with the mutual connection network (1000) and which issues a test control request associated with the test of the core (99) via the mutual connection network (1000). The mutual connection network (1000) is constituted of a plurality of adapters (3000) which become the connection interfaces of the plurality of cores (99) and the test controller (500), respectively and a plurality of routers (2000) which connect the plurality of adapters (3000). The adapters (3000) connected with the core (99) comprises a core testing unit for vicariously performing the test of the core (99) connected to itself based on the test control request received from the test controller (500) via the mutual connection network (1000).
(FR)L'invention concerne un circuit intégré à semi-conducteur comprenant plusieurs noyaux (99) reliés à un réseau de connexion mutuelle (1000) et un contrôleur de test (500) relié au réseau de connexion mutuelle (1000) et qui génère une requête de commande de test associée au test du noyau (99) par l'intermédiaire du réseau de connexion mutuelle (1000). Le réseau de connexion mutuelle (1000) est constitué de plusieurs adaptateurs (3000) qui deviennent les interfaces de connexion des différents noyaux (99) et du contrôleur de test (500), respectivement, et plusieurs routeurs (2000) qui relient les différents adaptateurs (3000). Les adaptateurs (3000) reliés au noyau (99) comprennent une unité de test de noyau pour réaliser indirectement le test du noyau (99) relié à lui-même sur la base la requête de commande de test reçue en provenance du contrôleur de test (500) par l'intermédiaire du réseau de connexion mutuelle (1000).
(JA) 本発明の半導体集積回路は、相互結合網(1000)に接続される複数のコア(99)と、相互結合網(1000)に接続され、コア(99)の試験に関する試験制御要求を、相互結合網(1000)を介して発行する試験制御部(500)と、を備える。相互結合網(1000)は、複数のコア(99)および試験制御部(500)のそれぞれの接続インタフェースとなる複数のアダプタ(3000)と、複数のアダプタ(3000)間を接続する複数のルータ(2000)と、から構成されている。コア(99)に接続されたアダプタ(3000)は、試験制御部(500)から相互結合網(1000)を介して受信した試験制御要求に基づいて、自身に接続されたコア(99)の試験を代行するコア試験部を含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)