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1. (WO2008126383) SPECTROGRAPHE DE MASSE À PIÈGE IONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126383    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/000812
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 28.03.2008
CIB :
H01J 49/42 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (Tous Sauf US).
IWAMOTO, Shinichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KODERA, Kei [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SEKIYA, Sadanori [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : IWAMOTO, Shinichi; (JP).
KODERA, Kei; (JP).
SEKIYA, Sadanori; (JP)
Mandataire : KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building 37, Motoakuozi-tyo Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-101277 09.04.2007 JP
Titre (EN) ION TRAP MASS SPECTROGRAPH
(FR) SPECTROGRAPHE DE MASSE À PIÈGE IONIQUE
(JA) イオントラップ質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)While applying a rectangular wave voltage to a ring electrode (21) such that ions captured already by an ion trap (20) are not diffused, irradiation timing of laser light for ion generation is controlled such that the ions reach an ion inlet (25) at a predetermined timing in one period of that voltage. In case of positive ions, for example, irradiation timing of laser light is adjusted such that the target ions reach the ion inlet (25) during the low level interval in one period of the rectangular wave voltage. Consequently, the quantity of ions can be increased by introducing ions additionally to the ions captured by ion trap (20), and signal strength in one time mass spectrometry can be increased by performing mass separation/detection subsequently. As a result, the number of repeating times of mass spectrometry for integrating the mass profile is decreased and the measuring time can be shortened.
(FR)Pendant l'application d'une tension d'onde rectangulaire à une électrode annulaire (21) pour que des ions déjà capturés par un piège ionique (20) ne sont pas diffusés, une temporisation d'irradiation de lumière laser pour une génération d'ions est commandée de telle sorte que les ions atteignent une entrée d'ions (25) à une moment prédéterminé dans une période de cette tension. Dans le cas d'ions positifs, par exemple, une temporisation d'irradiation de lumière laser est ajustée de telle sorte que les ions cibles atteignent l'entrée d'ions (25) pendant l'intervalle de niveau bas dans une période de la tension d'onde rectangulaire. En conséquence, la quantité d'ions peut être augmentée par introduction d'ions en plus des ions capturés par le piège ionique (20), et une intensité de signal dans une spectrométrie de masse unique peut être augmentée ultérieurement par séparation/détection de masse. Le nombre de temps de répétition de spectrométrie de masse pour intégrer le profil de masse est diminué et le temps de mesure peut être raccourci.
(JA) 既にイオントラップ(20)に捕捉されているイオンが発散しないように、リング電極(21)に矩形波電圧を印加しながら、その電圧の1周期中の所定のタイミングでイオンがイオン導入口(25)に到達するように、イオン生成のためのレーザ光の照射タイミングを制御する。例えば正イオンの場合、矩形波電圧の1周期中のローレベル期間中に目的イオンがイオン導入口(25)に到達するようにレーザ光照射のタイミングを調整する。これにより、イオントラップ(20)に捕捉されているイオンにさらにイオンを追加導入することでイオン量を増加させることができ、その後に質量分離・検出を行うことで1回の質量分析における信号強度を増加させることができる。その結果、質量プロファイルを積算するための質量分析の繰り返し回数を減らすことで、測定時間の短縮化を図ることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)