WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008126351) CONDENSATEUR CÉRAMIQUE STRATIFIÉ ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126351    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/000584
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 14.03.2008
CIB :
H01G 4/12 (2006.01), H01G 4/30 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
KAGATA, Hiroshi; (US Seulement).
TOMIOKA, Satoshi; (US Seulement).
SHIGENO, Koichi; (US Seulement)
Inventeurs : KAGATA, Hiroshi; .
TOMIOKA, Satoshi; .
SHIGENO, Koichi;
Mandataire : IWAHASHI, Fumio; c/o Panasonic Corporation 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-066119 15.03.2007 JP
Titre (EN) LAMINATED CERAMIC CAPACITOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
(FR) CONDENSATEUR CÉRAMIQUE STRATIFIÉ ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 積層セラミックコンデンサとその製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A laminated ceramic capacitor is provided with a laminated layer wherein dielectric layers composed of ceramic particles and internal electrodes are alternately laminated; and a pair of external electrodes which are arranged at least on the both end surfaces of the laminated layer and electrically connected to the internal electrodes alternately. The number of interfaces between the ceramic particles per unit length of the dielectric layer is higher in the laminating direction than that in a direction of connecting the pair of external electrodes. Thus, insulating characteristics can be improved by increasing the number of grain boundariesofthe ceramic particles of the dielectric between the internal electrodes. Especially, deterioration of the insulating characteristics can be suppressed by increasing the number of grain boundaries, even when the number of ceramic particles is reduced in the thickness direction due to reduction of the layer thickness.
(FR)La présente invention concerne un condensateur céramique stratifié à couche stratifiée dans laquelle des couches diélectriques composées de particules céramiques et d'électrodes internes sont stratifiées en alternance ; il comprend aussi une paire d'électrodes externes qui sont placées au moins sur les deux surfaces d'extrémité de la couche stratifiée et qui sont électriquement connectées en alternance aux électrodes internes. Le nombre d'interfaces entre les particules en céramique par longueur d'unité de la couche diélectrique est supérieur dans le sens de la stratification à celui du sens de connexion de la paire d'électrodes externes. Par conséquent, les caractéristiques d'isolation peuvent être améliorées en augmentant le nombre de limites de grain des particules en céramique de la couche diélectrique entre les électrodes internes. En particulier, la détérioration des caractéristiques d'isolation peut être supprimée en augmentant le nombre de limites de grain, même lorsque le nombre de particules en céramique est réduit dans le sens de l'épaisseur en raison de la réduction de l'épaisseur de couche.
(JA) セラミック粒子からなる誘電体層と内部電極を交互に積層した積層体層と、積層体層の少なくとも両端面に設けるとともに内部電極と交互に電気的に接続した一対の外部電極とを有する積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体層の単位長さ当たりのセラミック粒子間の界面の数は、一対の外部電極を結ぶ方向より積層方向を多くした構成である。このようにして、内部電極間の誘電体のセラミック粒子の粒界の数を増やすことにより、絶縁特性を向上させることができる。特に、薄層化により厚み方向のセラミック粒子の数が減ったとしても、粒界の数を増やすことにより絶縁特性の低下を抑制することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)