WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008124068) TESTEUR D'ÉLECTRONIQUE MUNI D'UNE CARTE DE DISTRIBUTION DE SIGNAUX ET D'UN SUPPORT DE TRANCHE AYANT DIFFÉRENTS COEFFICIENTS DE DILATATION THERMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/124068    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/004411
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 04.04.2008
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.02.2009    
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : AEHR TEST SYSTEMS [US/US]; 400 Kato Terrace, Fremont, CA 94539 (US) (Tous Sauf US).
LINDSEY, Scott, E. [US/US]; (US) (US Seulement).
RICHMOND, Donald, P. [US/US]; (US) (US Seulement).
CALDERON, Alberto [CR/US]; (US) (US Seulement).
STEPS, Steven, C. [US/US]; (US) (US Seulement).
DEBOE, Kenneth, W [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LINDSEY, Scott, E.; (US).
RICHMOND, Donald, P.; (US).
CALDERON, Alberto; (US).
STEPS, Steven, C.; (US).
DEBOE, Kenneth, W; (US)
Mandataire : DE KLERK, Stephen, M.; Sonnenschein, Nath & Rosenthal LLP 1530 Page Mill Road, Suite 200 Palo Alto, CA 94304 (US)
Données relatives à la priorité :
60/910,433 05.04.2007 US
Titre (EN) ELECTRONICS TESTER WITH A SIGNAL DISTRIBUTION BOARD AND A WAFER CHUCK HAVING DIFFERENT COEFFICIENTS OF THERMAL EXPANSION
(FR) TESTEUR D'ÉLECTRONIQUE MUNI D'UNE CARTE DE DISTRIBUTION DE SIGNAUX ET D'UN SUPPORT DE TRANCHE AYANT DIFFÉRENTS COEFFICIENTS DE DILATATION THERMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a tester apparatus of the kind including a portable supporting structure for removably holding and testing a substrate carrying a microelectronic circuit. An interface on the stationary structure is connected to the first interface when the portable structure is held by the stationary structure and is disconnected from the first interface when the portable supporting structure is removed from the stationary structure. An electrical tester is connected through the interfaces so that signals may be transmitted between the electrical tester and the microelectronic circuit to test the microelectronic circuit.
(FR)L'invention concerne un testeur du type qui comprend une structure de support portable destinée à maintenir de manière amovible et à tester un substrat portant un circuit microélectronique. Une interface sur la structure stationnaire est reliée à la première interface lorsque la structure portable est maintenue par la structure stationnaire et est débranchée de la première interface lorsque la structure de support portable est retirée de la structure stationnaire. Un testeur électrique est relié par le biais des interfaces afin que des signaux puissent être transmis entre le testeur électrique et le circuit microélectronique de façon à tester le circuit microélectronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)