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1. (WO2008123537) PROCÉDÉ DE MESURE DE MÉTHYLATION DANS UN ADN
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/123537    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/056524
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 26.03.2008
CIB :
C12Q 1/68 (2006.01), C07K 16/44 (2006.01), C12N 15/09 (2006.01)
Déposants : SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 27-1, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1048260 (JP) (Tous Sauf US).
TOMIGAHARA, Yoshitaka [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TARUI, Hirokazu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TOMIGAHARA, Yoshitaka; (JP).
TARUI, Hirokazu; (JP)
Mandataire : NAKAYAMA, Tohru; c/o Sumitomo Chemical Intellectual Property Service, Limited 5-33, Kitahama 4-chome Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5418550 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-078659 26.03.2007 JP
Titre (EN) METHOD FOR MEASUREMENT OF METHYLATION IN DNA
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE MÉTHYLATION DANS UN ADN
(JA) DNAメチル化測定方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is are: a method for measuring the content of methylated DNA in a DNA region of interest in the genomic DNA contained in a organism-derived sample; and others.
(FR)L'invention concerne un procédé pour mesurer le contenu d'un ADN méthylé dans une région d'ADN d'intérêt dans l'ADN génomique contenu dans un échantillon dérivé d'un organisme.
(JA)本発明は、生物由来検体に含まれるゲノムDNA中の目的とするDNA領域におけるメチル化されたDNAの含量を測定する方法等に関する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)