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1. (WO2008123510) PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉPLACEMENT, APPAREIL DE MESURE DE DÉPLACEMENT ET CIBLE POUR UNE MESURE DE DÉPLACEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/123510    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/056391
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 31.03.2008
CIB :
G01C 15/06 (2006.01), G01B 11/16 (2006.01), G01C 15/00 (2006.01), G01M 99/00 (2011.01), G01B 21/32 (2006.01)
Déposants : KYOTO UNIVERSITY [JP/JP]; 36-1, Yoshida-honmachi, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068501 (JP) (Tous Sauf US).
SOOKI CO., LTD. [JP/JP]; 2-4, Kujo Minami 4-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500025 (JP) (Tous Sauf US).
OSHIMA, Yoshinobu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HASEGAWA, Shinji [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OSHIMA, Yoshinobu; (JP).
HASEGAWA, Shinji; (JP)
Mandataire : YAMAMOTO, Koji; c/o TOKYO CENTRAL PATENT FIRM 3rd Floor, Oak Building Kyobashi 16-10, Kyobashi 1-chome Chuou-ku, Tokyo 1040031 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-090953 30.03.2007 JP
Titre (EN) DISPLACEMENT MEASURING METHOD, DISPLACEMENT MEASURING APPARATUS AND TARGET FOR DISPLACEMENT MEASUREMENT
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉPLACEMENT, APPAREIL DE MESURE DE DÉPLACEMENT ET CIBLE POUR UNE MESURE DE DÉPLACEMENT
(JA) 変位計測方法、及び変位計測装置並びに変位計測用のターゲット
Abrégé : front page image
(EN)A displacement measuring apparatus (4) is provided with a pair of targets (10A, 10B), which have laser beam reflecting sections (12), and are arranged on a bridge beam (3A) by having the reflecting sections (12) incline in directions opposite to each other against a displacement measuring direction. The displacement measuring apparatus is also provided with a pair of laser distance meters (20A, 20B) on a bridge support (2) or the like. A pair of laser beams parallel to each other are applied to the reflecting sections (12) from the laser distance meters (20A, 20B), the reflected beams returned in the direction opposite to the laser beam incoming direction from the reflecting sections (12) are received by the laser distance meters (20A, 20B), and change quantities of distances to the pair of targets (10A, 10B) are measured. By using such change quantities, displacement of the bridge beam (3A) in the vertical direction is calculated while eliminating influence of a shift in the beam incoming direction.
(FR)La présente invention concerne un appareil de mesure de déplacement (4) qui est pourvu d'une paire de cibles (10A, 10B) qui ont des parties de réflexion de faisceau laser (12) et qui sont arrangées sur un madrier de pont (3A) en ayant les parties de réflexion (12) inclinées dans des directions opposées l'une à l'autre par rapport à une direction de mesure de déplacement. L'appareil de mesure de déplacement est également pourvu d'une paire de compteurs de distance laser (20A, 20B) sur un support de pont (2) ou similaire. Une paire de faisceaux laser parallèles l'un à l'autre sont appliqués aux parties de réflexion (12) depuis les compteurs de distance laser (20A, 20B), les faisceaux réfléchis renvoyés dans la direction opposée à la direction d'entrée de faisceau laser depuis les parties de réflexion (12) sont reçus par les compteurs de distance laser (20A, 20B) et l'importance du changement des distances par rapport à la paire de cibles (10A, 10B) est mesurée. En utilisant une telle importance de changement, on calcule le déplacement du madrier de pont (3A) dans la direction verticale tout en éliminant l'influence du déplacement dans la direction d'entrée de faisceau.
(JA) レーザ光に対する反射部(12)を有し、反射部(12)が変位計測方向に対して互いに逆に傾くようにして橋桁(3A)に設置される一対のターゲット(10A、10B)と、橋脚(2)等に設置される一対のレーザ距離計(20A、20B)とを変位計測装置(4)に設け、レーザ距離計(20A、20B)から反射部(12)に対して互いに平行な一対のレーザ光を照射し、反射部(12)からレーザ光の入射方向と逆方向に返される反射光をレーザ距離計(20A、20B)で受光して、一対のターゲット(10A、10B)までの距離の変化量を計測し、それらの変化量を利用して、入射方向のずれの影響を排除しつつ橋桁(3A)の鉛直方向の変位を算出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)