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1. (WO2008123146) MICROSCOPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/123146    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/055291
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 21.03.2008
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/12 (2006.01)
Déposants : ALTAIR CORPORATION [JP/JP]; 3-23-3, Shinyokohama, Kouhoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2220033 (JP) (Tous Sauf US).
HIRAFUJI, Mamoru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TOMINAGA, Ichiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
EDA, Shigeto [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HIRAFUJI, Mamoru; (JP).
TOMINAGA, Ichiro; (JP).
EDA, Shigeto; (JP)
Mandataire : NAGOYA INTERNATIONAL PATENT FIRM; Meishin Bldg., 20-19, Nishiki 1-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-075485 22.03.2007 JP
Titre (EN) MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE
(JA) 顕微鏡
Abrégé : front page image
(EN)A microscope enables stereoscopic observation of a transparent or semitransparent sample. The microscope has placement means for placing a sample in position, magnification means for magnifying the sample to a size viewable through an objective lens, a pattern body section where a pattern is drawn, and light projection means for applying light to at least the pattern body section. The placement means, the pattern body section, and the light projection means are arranged at positions that enable light projected from the light projection means to be applied through the pattern body section to the sample placed by the placement means within the depth of field of the magnification means.
(FR)L'invention concerne un microscope qui permet une observation stéréoscopique d'un échantillon transparent ou semi-transparent. Le microscope a des moyens de placement pour placer un échantillon en position, des moyens d'agrandissement pour agrandir l'échantillon à une dimension visualisable à travers une lentille objectif, une section de corps de motif dans laquelle un motif est dessiné, et des moyens de projection de lumière pour appliquer une lumière à au moins la section de corps de motif. Les moyens de placement, la section de corps de motif et les moyens de projection de lumière sont disposés à des positions qui permettent à une lumière projetée par les moyens de projection de lumière d'être appliquée à travers la section de corps de motif à l'échantillon placé par les moyens d'échantillon à l'intérieur de la profondeur de champ des moyens d'agrandissement.
(JA) 透明あるいは半透明の試料を立体的に観察可能な顕微鏡を提供する。顕微鏡は、試料を設置する設置手段と、対物レンズを介して試料を視認可能な大きさに拡大する拡大手段と、模様が描かれた模様体部と、少なくとも模様体部に光を当てる投光手段とを備え、投光手段から投光された光を、模様体部を介し、設置手段により拡大手段の被写界深度内に配置された試料に当てることが可能な位置に、設置手段、模様体部、投光手段を設置したことを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)