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1. (WO2008122385) PROCÉDÉ DE MESURE DE ROTONDITÉ DE PROFILÉS RONDS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/122385    N° de la demande internationale :    PCT/EP2008/002593
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 01.04.2008
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G01B 11/245 (2006.01), B21B 38/04 (2006.01)
Déposants : ZUMBACH ELECTRONIC AG [CH/CH]; Hauptstrasse 93, CH-2552 Orpund (CH) (Tous Sauf US).
STUDER, Urs-Peter [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : STUDER, Urs-Peter; (CH)
Mandataire : KÖSTER, Hajo; Niedmers Jaeger Köster, Pippinplatz 4a, 82131 Gauting b. München (DE)
Données relatives à la priorité :
07007089.1 04.04.2007 EP
Titre (DE) VERFAHREN ZUR RUNDHEITSMESSUNG VON RUNDPROFILEN
(EN) METHOD FOR MEASURING THE SHPERICITY OF SPHERICAL PROFILES
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE ROTONDITÉ DE PROFILÉS RONDS
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Rundheitsmessung oder Messung der Formabweichung von in ihrer Längsrichtung vorbewegten Rundprofilen in Walzstraßen, bei dem auf per se bekannte Weise mit Hilfe einer Messeinrichtung mit mindestens zwei Laserscannern, die jeweils einen lichtempfindlichen Sensor und einen Laser aufweisen, mindestens drei an dem zu vermessende Rundprofil anliegende und das Rundprofil umschließende, ein Polygon bildende Schattenkanten erzeugt und vermessen und daraus die entsprechenden Tangenten errechnet werden. Dieses Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass a) vor der Messung ein Zentrum (Z0) in dem Messfeld der Messeinrichtung kalibriert und festgelegt wird, sofern ein derartiges Zentrum (Z0) noch nicht festgelegt wurde, b) Senkrechte (r1, bis r6') vom Zentrum (Z0) zu den Tangenten (T1, bis T6' ) bestimmt und somit der Abstand vom Zentrum (Z0) zu den Tangenten (T1 - T6' ) errechnet wird, c) die Eckpunkte (A bis K) des das Rundprofil umschließenden Polygons errechnet werden, wobei eine Kontur ermittelt wird, d) bezüglich der Kontur ein Bezugskreis derart gelegt wird, dass i) die quadratische Formabweichung der Kontur zu diesem Bezugskreis ein Minimum erreicht, ii) der Bezugskreis den kleinstmöglichen Kreis darstellt, der um die Kontur passt, iii) der Bezugskreis den größtmöglichen Kreis darstellt, der in die Kontur passt, oder iv) der Bezugskreis zusammen mit einem weiteren, zu dem Bezugskreis konzentrischen Kreis die Kontur bei minimaler Radiendifferenz einschließt, e) der Durchmesser (Dref) des Bezugskreises errechnet und aus der Lage im Raum das Bezugszentrum (Zp), das den Mittelpunkt des Bezugskreises darstellt, bestimmt wird und f) mindestens zwei Vektoren von diesem Bezugszentrum (Zp) zur Kontur berechnet werden und aus diesen Daten die Unrundheit bestimmt wird.
(EN)The invention relates to a method for measuring the sphericity or for measuring the shape deviation of spherical profiles in rolling trains that displace in the longitudinal direction thereof. According to the invention, at least three shadow edges that are adjacent to the spherical profile that is to be measured, that surrounds said spherical profile and that forms a polygon are produced and measured in a known manner, with the aid of a measuring device having at least two laser scanners that respectively comprise a light-sensitive sensor and a laser, and the corresponding tangents are calculated from said result. Said method is characterised in that a) prior to measurment, a centre (Z0) in the measuring field of the measuring device is calibrated and determined provided that said type of centre (Z0) has not already determined, b) perpendiculars (r1, - r6') from the centre (Z0) to the tangents (T1, bis T6' ) and also the distance from the centre (Z0) to the tangents (T1 - T6' ) is calculated, c) the corner points (A - K) of the polygon surrounding the spherical profile are calculated, a contour is determined, d) a reference circuit is determined in relation to the contour such that i) the quadratic shape deviation of the contour reaches a minimum in relation to said reference circuit, ii) said reference circuit represents the smallest possible circuit that adapts to the contour, iii) said reference circuit representing the largest possible circuit that adapts to the contour, or iv) the reference circuit together with an additional circuit that is concentric to the reference circuit surrounds the contour at a minimal radial distance, e) the diameter (Dref) of the reference circuit is calculated and the reference centre (Zp) is determined from the position in the cavity that represents the centre point of the reference circuit and f) at least two vectors are calculated from said reference centre (Zp) to the contour and the ovality is determined from said data.
(FR)La présente invention concerne un procédé de mesure de rotondité ou de mesure d'écart de forme de profilés ronds avancés dans leur direction longitudinale, dans des trains de laminage. Selon ce procédé, au moins trois bords d'ombre qui sont adjacents au profilé rond à mesurer, qui entourent ce profilé rond et qui forment un polygone sont établis et mesurés de manière connue en soi, à l'aide d'un système de mesure comportant au moins deux scanneurs laser qui présentent respectivement un capteur sensible à la lumière et un laser, puis les tangentes correspondantes sont calculées à partir du résultat. Ce procédé est caractérisé en ce que a) avant la mesure, un centre (Z0) dans le champ de mesure du système de mesure est étalonné et fixé, dans la mesure où un tel centre (Z0) n'avait pas encore été fixé, b) des normales (r1' à r6') du centre (Z0) aux tangentes (T1' à T6' ) sont déterminées et ainsi la distance du centre (Z0) aux tangentes (T1 - T6' ) est calculée, c) les sommets (A à K) du polygone entourant le profilé rond sont calculés, un contour est déterminé, d) un cercle de référence est établi par rapport au contour de manière que i) l'écart de forme quadratique du contour par rapport au cercle de référence soit minimal, ii) le cercle de référence représente le cercle le plus petit possible qui correspond autour du contour, iii) le cercle de référence représente le plus grand cercle possible qui correspond à l'intérieur du contour ou iv) le cercle de référence englobe le contour avec un autre cercle qui lui est concentrique, avec une différence de rayon minimale, e) le diamètre (Dref) du cercle de référence est calculé, le centre de référence (Zp) qui représente le milieu du cercle de référence est déterminé à partir de la position dans l'espace, puis f) au moins deux vecteurs de ce centre de référence (Zp) au contour sont calculés, et enfin la non-rotondité est déterminée à partir de ces données.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)