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1. (WO2008122082) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE PARAMÈTRES DE FONCTIONNEMENT DU CERVEAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/122082    N° de la demande internationale :    PCT/AU2008/000490
Date de publication : 16.10.2008 Date de dépôt international : 04.04.2008
CIB :
A61B 5/048 (2006.01)
Déposants : BRC IP PTY LTD [AU/AU]; Level 12, 235 Jones Street, Ultimo, New South Wales 2007 (AU) (Tous Sauf US).
ROBINSON, Peter, Alexander [AU/AU]; (AU) (US Seulement).
RENNIE, Christopher, John [AU/AU]; (AU) (US Seulement)
Inventeurs : ROBINSON, Peter, Alexander; (AU).
RENNIE, Christopher, John; (AU)
Mandataire : SHELSTON IP; 60 Margaret Street, Sydney, NSW 2000 (AU)
Données relatives à la priorité :
2007901820 04.04.2007 AU
Titre (EN) BRAIN FUNCTION PARAMETER MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE PARAMÈTRES DE FONCTIONNEMENT DU CERVEAU
Abrégé : front page image
(EN)A method of fitting a proposed model for electro encephalography spectra to data derived from EEG recordings, the method comprising the steps of: (a) inputting at least one spectral trace of electroencephalographic measurements; (b) inputting a series of parameters associated with the proposed model; (c) applying a non-linear fitting algorithm to the at least one spectral trace and the at least one series of parameters, wherein the non- linear fitting model preferably can include a series of constraints associated with predetermined ones of the series of parameters so as to constrain the parameters in a predetermined range.
(FR)L'invention porte sur un procédé qui permet d'ajuster un modèle proposé de spectres d'électroencéphalographie à des données dérivées d'enregistrements EEG, lequel procédé consiste à: (a) entrer au moins une trace spectrale de mesures électroencéphalographiques; (b) entrer une série de paramètres associés au modèle proposé; (c) appliquer un algorithme d'ajustement non linéaire à la trace spectrale précitée et à la série de paramètres associés au modèle proposé; le modèle d'ajustement non linéaire pouvant de préférence comprendre une série de contraintes associées à des paramètres prédéterminés de la série de paramètres afin de confiner les paramètres dans une plage prédéterminée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)