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1. (WO2008121934) MICROSONDES VERTICALES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/121934    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/058849
Date de publication : 09.10.2008 Date de dépôt international : 31.03.2008
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : DSL LABS, INC. [US/US]; 48760 Kato Rd., Fremont, CA 94538 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : MCQUADE, Francis; (US)
Mandataire : WALSH, Chad R.; 900 Lafayette St., Ste. 509, Santa Clara, CA 95050 (US)
Données relatives à la priorité :
11/731,072 30.03.2007 US
Titre (EN) VERTICAL MICRO PROBES
(FR) MICROSONDES VERTICALES
Abrégé : front page image
(EN)Embodiments of the present invention improve probes and probe assemblies. In one embodiment the present invention includes a micro probe comprising a lower contact end including a lower tip, an upper contact end, and a curved intermediate region between the upper contact end and lower contact end. An angle stop is included between the lower contact end and the curved intermediate region, and the lower contact end, upper contact end, and curved intermediate region have a uniform thickness.
(FR)Les modes de réalisation de la présente invention améliorent des sondes et des ensembles formant sonde. Dans un mode de réalisation, la présente invention comprend une microsonde comprenant une extrémité de contact inférieure pourvue d'une pointe inférieure, une extrémité de contact supérieure, et une région intermédiaire incurvée entre l'extrémité de contact supérieure et l'extrémité de contact inférieure. Une butée angulaire est prévue entre l'extrémité de contact inférieure et la région intermédiaire incurvée, et l'extrémité de contact inférieure, l'extrémité de contact supérieure, et la région intermédiaire incurvée présentent une épaisseur uniforme.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)