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1. (WO2008121919) APPAREIL DE MESURE DE DISTANCE ABSOLUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/121919    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/058820
Date de publication : 09.10.2008 Date de dépôt international : 31.03.2008
CIB :
G01S 7/491 (2006.01)
Déposants : FARO TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 125 Technology Park, Lake Mary, FL 32746-6204 (US) (Tous Sauf US).
BRIDGES, Robert, E. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BRIDGES, Robert, E.; (US)
Mandataire : LENT, Daniel, P.; Cantor Colburn LLP, 20 Church St., 22nd Floor, Hartford, CT 06103-3207 (US)
Données relatives à la priorité :
60/909,099 30.03.2007 US
Titre (EN) ABSOLUTE DISTANCE METER
(FR) APPAREIL DE MESURE DE DISTANCE ABSOLUE
Abrégé : front page image
(EN)An absolute distance meter for measuring a distance to a target may include a synthesizer including a first quadrature modulator and structured to receive a reference signal having a reference frequency and output a first signal having a first frequency and a second signal having a second frequency, a laser structured to output a laser beam, wherein the laser beam is modulated by the second signal, an optical system for directing the laser beam toward the target, a reference phase calculating system structured to calculate a reference phase based on signals having the first frequency and the second frequency, a target optical detector structured to receive at least a portion of the laser beam returned from the target and structured to output a measured electrical signal having the second frequency based on the at least a portion of the laser beam, and a measure phase calculating system structured to calculate a measure phase based on the measured electrical signal and the first signal.
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure de distance absolue pour mesurer une distance à une cible qui peut comprendre un synthétiseur comprenant un premier modulateur en quadrature et structuré pour recevoir un signal de référence ayant une fréquence de référence et délivrer en sortie un premier signal ayant une première fréquence et un second signal ayant une seconde fréquence, un laser structuré pour délivrer en sortie un faisceau laser, où le faisceau laser est modulé par le second signal, un système optique pour diriger le faisceau laser vers la cible, un système de calcul de phase de référence structuré pour calculer une phase de référence fondée sur des signaux ayant la première fréquence et la seconde fréquence, un détecteur optique de cible structuré pour recevoir au moins une partie du faisceau laser renvoyé à partir de la cible et structuré pour délivrer en sortie un signal électrique mesuré ayant la seconde fréquence fondée sur la au moins une partie du faisceau laser, et un système de calcul de phase de mesure structuré pour calculer une phase de mesure fondée sur le signal électrique mesuré et le premier signal.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)