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1. (WO2008120474) PROCÉDÉ DE PRODUCTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UN CONTINUUM D'ÉTIQUETTE ADHÉSIVE RFID
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/120474    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/000846
Date de publication : 09.10.2008 Date de dépôt international : 02.04.2008
CIB :
B31D 1/02 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), G06K 17/00 (2006.01)
Déposants : TAC KASEI CO., LTD. [JP/JP]; 222-2, Nagasu, Kawanoe-cho, Shikokuchuo-shi, Ehime 7990197 (JP) (Tous Sauf US).
ITO, Sunao [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ITO, Sunao; (JP)
Mandataire : FUJIWARA, Michihiko; 49-31, Uji-jazuka Uji-shi, Kyoto 6110021 (JP)
Données relatives à la priorité :
PCT/JP2007/000357 03.04.2007 JP
Titre (EN) PRODUCTION METHOD AND INSPECTION METHOD OF CONTINUUM OF RFID ADHESIVE LABEL
(FR) PROCÉDÉ DE PRODUCTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UN CONTINUUM D'ÉTIQUETTE ADHÉSIVE RFID
(JA) RFID粘着ラベル連続体の製造方法と検査方法
Abrégé : front page image
(EN)A production method or an inspection method of a continuum of RFID adhesive label which causes no trouble in printing on an RFID adhesive label is provided. The production method or an inspection method of a continuum of RFID adhesive label where a plurality of RFID adhesive labels are applied temporarily onto a strip release paper comprises (1). a first positional error calculation step for measuring the relative position of a surface substrate in the RFID adhesive label on the strip release paper by an optical measuring means and calculating a first error value from a predetermined ideal relative position of the surface substrate, and (2). a step for comparing a predetermined first error tolerance with a first error value calculated in the first positional error calculation step and judging whether the relative position of the surface substrate on the release paper is acceptable or rejectable.
(FR)L'invention concerne un procédé de production ou un procédé d'inspection d'un continuum d'étiquette adhésive RFID qui ne provoque aucun problème dans l'impression sur une étiquette adhésive RFID. Le procédé de production ou un procédé d'inspection d'un continuum d'étiquette adhésive RFID où plusieurs étiquettes adhésives RFID sont appliquées de façon temporaire sur un papier de libération de bande comprend (1) une étape de calcul d'erreur de première position pour mesurer la position relative d'un substrat de surface dans l'étiquette adhésive RFID sur le papier de libération de bande par un moyen de mesure optique et calculer une première valeur d'erreur à partir d'une position relative idéale prédéterminée du substrat de surface, et (2) une étape pour comparer une tolérance de première erreur prédéterminée avec une valeur de première erreur calculée dans l'étape de calcul de première erreur de position et déterminer si la position relative du substrat de surface sur le papier anti-adhésif est acceptable ou rejetable.
(JA) RFID粘着ラベルへの印刷にあたり支障が生じることがないRFID粘着ラベル連続体の製造方法、または検査方法を提供するものである。  帯状の剥離紙上に複数のRFID粘着ラベルが仮着されたRFID粘着ラベル連続体の製造方法または検査方法であって、以下の工程を含む。 (1) 光学的測定手段により、帯状の剥離紙上でのRFID粘着ラベルにおける表面基材の相対位置を測定し、予め定められた表面基材理想相対位置との第1誤差値を算出する第1位置誤差算出工程 (2) 予め定められた第1誤差許容値と、第1位置誤差算出工程で算出された第1誤差値を比較し、前記剥離紙上での前記表面基材の相対位置の良不良を判別する工程
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)