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1. (WO2008119550) APPAREIL ET MÉTHODE D'INSPECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/119550    N° de la demande internationale :    PCT/EP2008/002585
Date de publication : 09.10.2008 Date de dépôt international : 01.04.2008
CIB :
G01N 21/35 (2006.01), G01N 21/95 (2006.01)
Déposants : VISCOM AG [DE/DE]; Carl-Buderus-Str. 9-15, D-30455 Hannover (DE) (Tous Sauf US).
HABIB, Taufiq [PK/DE]; (DE) (US Seulement).
SCHREINER, Alex, F. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HABIB, Taufiq; (DE).
SCHREINER, Alex, F.; (US)
Mandataire : PATENT, Attorneys; Leine Wagner Herrguth, Burckhardtstr. 1, 30163 Hannover (DE)
Données relatives à la priorité :
60/909,670 02.04.2007 US
Titre (EN) INSPECTION APPARATUS AND METHOD
(FR) APPAREIL ET MÉTHODE D'INSPECTION
Abrégé : front page image
(EN)An inspection apparatus (2) for detection of features in a work object includes a radiation source directing radiation to the work object (6) in use and an image capturing system including at least one sensor. According to the invention, the radiation source is a NIR light source outputting near infrared light in use, wherein the sensor is sensitive to near infrared light.
(FR)L'invention porte sur un appareil d'inspection (2) pour la détection de caractéristiques d'un objet usiné (6) comprenant: une source de radiations dirigées sur l'objet, et un système de capture d'images incluant au moins un capteur. Selon l'invention, la source de radiation est une source de lumière en IR proche, et le capteur est sensible à l'IR proche.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)