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1. (WO2008118523) SCINTILLATEURS ET LEUR PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/118523    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/051917
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 24.01.2008
CIB :
C09K 11/68 (2006.01), C09K 11/74 (2006.01), C09K 11/78 (2006.01), C01F 17/00 (2006.01), C09K 11/64 (2006.01)
Déposants : GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345 (US) (Tous Sauf US).
LOUREIRO, Sergio, Paulo Martins [PT/US]; (US) (US Seulement).
VARTULI, James, Scott [US/US]; (US) (US Seulement).
CLOTHIER, Brent, Allen [US/US]; (US) (US Seulement).
DUCLOS, Steven, Jude [US/US]; (US) (US Seulement).
MANOHARAN, Mohan [IN/US]; (US) (US Seulement).
MALENFANT, Patrick, Roland Lucien [CA/US]; (US) (US Seulement).
VENKATARAMANI, Venkat, Subramaniam [US/US]; (US) (US Seulement).
BUENO, Clifford [US/US]; (US) (US Seulement).
SRIVASTAVA, Alok [IN/US]; (US) (US Seulement).
STOKLOSA, Stanley, John [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LOUREIRO, Sergio, Paulo Martins; (US).
VARTULI, James, Scott; (US).
CLOTHIER, Brent, Allen; (US).
DUCLOS, Steven, Jude; (US).
MANOHARAN, Mohan; (US).
MALENFANT, Patrick, Roland Lucien; (US).
VENKATARAMANI, Venkat, Subramaniam; (US).
BUENO, Clifford; (US).
SRIVASTAVA, Alok; (US).
STOKLOSA, Stanley, John; (US)
Mandataire : THOMAS, Jonathan E.; General Electric Company, Global Patent Operation, P.O. Box 861, 2 Corporate Drive, Suite 648, Shelton, Connecticut 06484 (US)
Données relatives à la priorité :
11/728,400 26.03.2007 US
11/728,445 26.03.2007 US
11/728,399 26.03.2007 US
Titre (EN) SCINTILLATORS AND METHOD FOR MAKING SAME
(FR) SCINTILLATEURS ET LEUR PROCÉDÉ DE FABRICATION
Abrégé : front page image
(EN)A scintillation detector comprising nano-scale particles of a scintillation compound embedded in a plastic matrix is provided. The nano-scale particles may be made from metal oxides, metal oxyhalides, metal oxysulfides, or metal halides. Methods are provided for preparing the nano-scale particles. The particles may be coated with organic compounds or polymers prior to incorporation in the plastic matrix. A technique for matching the refractive index of the plastic matrix with the nano-scale particles by incorporating nano-scale particles of titanium dioxide is also provided. The scintillator may be coupled with one or more photodetectors to form a scintillation detection system. The scintillation detection system may be adapted for use in X-ray and radiation imaging devices, such as digital X-ray imaging, mammography, CT, PET, or SPECT, or may be used in radiation security detectors or subterranean radiation detectors.
(FR)La présente invention concerne un détecteur de scintillation comprenant des nanoparticules d'un composant de scintillation intégré dans une matrice en plastique. Les nanoparticules peuvent être réalisées à partir d'oxydes métalliques, d'oxyhalogénures métalliques, d'halogénures métalliques, d'oxysulfures métalliques. La présente invention concerne également des procédés pour préparer les nanoparticules. Les particules peuvent être revêtues avec des composants organiques ou des polymères avant d'être incorporées dans la matrice en plastique. Une technique pour faire correspondre l'indice de réfraction de la matrice en plastique avec les nanoparticules en incorporant des nanoparticules de dioxyde de titane est également fournie. Le scintillateur peut être couplé à un ou à plusieurs détecteurs optiques afin de former un système de détection de scintillation. Le système de détection de scintillation peut être adapté pour être utilisé dans des dispositifs d'imagerie par rayonnement ou par rayons X, tels que les dispositifs d'imagerie à rayons X, de mammographie, CT, PET ou SPECT, ou pour être utilisé dans des détecteurs de sécurité de radiation ou des détecteurs de radiation souterraine.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)