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1. (WO2008117863) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET SON PROCÉDÉ DE COMMANDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117863    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/056023
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 28.03.2008
CIB :
G09G 3/36 (2006.01), G02F 1/133 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01)
Déposants : SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi Osaka 5458522 (JP) (Tous Sauf US).
UEHATA, Masaki; (US Seulement).
OZAKI, Masami; (US Seulement).
YAMAMOTO, Keiichi; (US Seulement).
MURAI, Atsuhito; (US Seulement)
Inventeurs : UEHATA, Masaki; .
OZAKI, Masami; .
YAMAMOTO, Keiichi; .
MURAI, Atsuhito;
Mandataire : SHIMADA, Akihiro; Shimada Patent Firm Manseian Building 1-10-3, Yagi-cho Kashihara-shi Nara 6340078 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-083493 28.03.2007 JP
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS CONTROL METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET SON PROCÉDÉ DE COMMANDE
(JA) 液晶表示装置およびその制御方法
Abrégé : front page image
(EN)An in-plane flicker is prevented by a simple structure even if wires from a gate driver to respective scan signal lines are different in length. In a liquid crystal display device, respective gate wires (Lg(n)) connecting from the gate driver (400) to the respective scan signal lines (GL(n)) of a display unit (600) are different in length, and waveform distortion of a scan signal (G(n)) differs for each of the scan signal lines (GL(n)). Therefore, a quantity of a drop in pixel electrode potential caused by a drop in potential of the scan signal line differs depending on parasitic capacity (Cgd) between the scan signal line and a pixel electrode. Reference voltages V1 to V4 for applying an appropriate potential change to each auxiliary capacitance line (Cs(n)) to approximately completely compensate the drop in potential are generated by a simple slope voltage generation circuit (700). This can prevent the in-plane flicker by a simple structure.
(FR)Un papillotement dans le plan est empêché par une structure simple, même si des fils provenant d'un pilote de grille vers des lignes de signal de balayage respectives ont des longueurs différentes. Dans un dispositif d'affichage à cristaux liquides, des fils de grille respectifs (Lg(n)), se connectant du pilote de grille (400) aux lignes de signal de balayage respectives (GL(n)) d'une unité d'affichage (600) ont des longueurs différentes, et une distorsion de forme d'onde d'un signal de balayage (G(n)) diffère pour chacune des lignes de signal de balayage (GL(n)). Par conséquent, une grandeur d'une chute de potentiel d'électrode de pixel provoquée par une chute de potentiel de la ligne de signal de balayage diffère en fonction de la capacité parasitaire (Cgd) entre la ligne de signal de balayage et une électrode de pixel. Des tensions de référence V1 à V4 pour appliquer un changement de potentiel approprié à chaque ligne capacitive auxiliaire (Cs(n)), afin de compenser approximativement et complètement la chute de potentiel, sont générées par un circuit de génération de tension à pente simple (700). Ceci peut empêcher le papillotement dans le plan par une structure simple.
(JA) 本発明は、ゲートドライバから各走査信号線への配線の長さが異なる場合でも、面内フリッカを簡易な構成で防止するものであって、本液晶表示装置では、ゲートドライバ(400)から表示部(600)の各走査信号線GL(n)へ繋がる各ゲート用配線Lg(n)の長さが異なり、走査信号G(n)の波形なまりが各走査信号線GL(n)毎に異なる。よって走査信号線と画素電極との寄生容量Cgdに応じて走査信号線の電位低下により生じる画素電極電位の低下量が異なる。そこで、この電位低下がほぼ完全に補償されるよう各補助容量線Cs(n)に適切な電位変化を与えるための基準電圧V1~V4を簡易なスロープ電圧生成回路(700)により生成する。このことにより面内フリッカを簡易な構成で防止することができる。                                                                                 
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)