WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008117809) SOUS-PLATINE, PLATINE ET MICROSCOPE ÉQUIPÉ DE LA SOUS-PLATINE ET DE LA PLATINE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117809    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/055626
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 18.03.2008
CIB :
G02B 21/26 (2006.01)
Déposants : NIKON CORPORATION [JP/JP]; 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008331 (JP) (Tous Sauf US).
TAKEUCHI, Atsushi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TAKEUCHI, Atsushi; (JP)
Mandataire : INOUE, Yoshio; 3F, Garoh Bldg. 1-4, Nihonbashi 3-chome, Chuo-ku Tokyo 1030027 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-077127 23.03.2007 JP
Titre (EN) SUBSTAGE, STAGE AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SUBSTAGE AND THE STAGE
(FR) SOUS-PLATINE, PLATINE ET MICROSCOPE ÉQUIPÉ DE LA SOUS-PLATINE ET DE LA PLATINE
(JA) サブステージと、ステージと、これを有する顕微鏡
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a substage for a microscope. The substage is provided with a plurality of fastening means for selectively fastening a plurality of sample placing stages each of which has a fastening means.
(FR)La présente invention concerne une sous-platine destinée à un microscope. La sous-platine est dotée d'une pluralité de moyens de fixation permettant de fixer sélectivement une pluralité de platines supportant des échantillons, chacune comportant des moyens de fixation.
(JA) それぞれ締結手段を備えた複数の標本載置用ステージを、選択的に締結するための複数の締結手段を備えた、顕微鏡用サブステージ。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)