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1. (WO2008117743) SYSTÈME D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, PROGRAMME ET DISPOSITIF MÉCANIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117743    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/055239
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 21.03.2008
CIB :
G01M 7/02 (2006.01), E02D 1/00 (2006.01), E02D 27/34 (2006.01), G01M 99/00 (2011.01)
Déposants : National University Corporation Saitama University [JP/JP]; 255 Shimo-Okubo, Sakura-ku, Saitama-shi, Saitama 3388570 (JP) (Tous Sauf US).
SAITOH, Masato [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SAITOH, Masato; (JP)
Mandataire : MAYAMA INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 4th-Floor, Den-entoshi Construction Bldg. 5-9, Chuorinkan 4-chome Yamato-shi, Kanagawa 2420007 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-077319 23.03.2007 JP
Titre (EN) ANALYSIS SYSTEM, ANALYSIS METHOD, PROGRAM AND MECHANICAL DEVICE
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, PROGRAMME ET DISPOSITIF MÉCANIQUE
(JA) 解析システム、解析方法、プログラムおよび機械装置
Abrégé : front page image
(EN)An analysis system configured as the rheology model of a foundation-ground system where a dynamic spring dependent on the frequency can be represented by elements having a constant independent from the frequency. The analysis system is a model for reproducing the mechanical characteristics of a system consisting of the foundation and the ground and comprises an elastic element (10), an element (20) for damping the vibration, and an element (30) for generating a reaction proportional to the relative acceleration at the opposite ends. The analysis system is constituted as a base system (40) where the elastic element (10), the damping element (20) and the reaction generating element (30) are connected in parallel. The analysis system further includes at least one core system (50, 60) where two out of the elastic element, the damping element and the reaction generating element are connected in parallel and the remaining one is connected in series, and can also be constituted by connecting the base system (40) and at least one core system (50, 60) in parallel.
(FR)L'invention concerne un système d'analyse configuré en tant que modèle rhéologique d'un système de fondation-sol où un ressort dynamique fonction de la fréquence peut être représenté par des éléments ayant une constante indépendante de la fréquence. Le système d'analyse est un modèle pour reproduire les caractéristiques mécaniques d'un système constitué par la fondation et le sol, et il comprend un élément élastique (10), un élément (20) pour amortir la vibration, et un élément (30) pour générer une réaction proportionnelle à l'accélération relative des extrémités opposées. Le système d'analyse est constitué sous la forme d'un système de base (40) où l'élément élastique (10), l'élément d'amortissement (20) et l'élément de génération de réaction (30) sont reliés en parallèle. Le système d'analyse comprend en outre au moins un système central (50, 60) dans lequel deux éléments parmi l'élément élastique, l'élément d'amortissement et l'élément de génération de réaction sont reliés en parallèle et l'élément restant est relié en série, et le système d'analyse peut également être constitué par la liaison du système de base (40) et d'au moins un système central (50, 60) en parallèle.
(JA) 本発明は、振動数に依存しない定数を持つ要素で、振動数に依存する動的ばねを表現できる基礎-地盤系のレオロジーモデルとして構築される解析システムを提供する。本発明の解析システムは、基礎と地盤とからなる系の力学特性を再現するモデルであり、弾性要素10と、振動を減衰させる減衰要素20と、両端部の相対加速度に比例した反力を生成する反力生成要素30とを含む。この解析システムは、弾性要素10と減衰要素20と反力生成要素30とが並列に接続されたベースシステム40として構成される。また、この解析システムは、弾性要素と減衰要素と反力生成要素とのうちの2つが並列に接続され、残りの1つが直列に接続される少なくとも1つのコアシステム50、60とをさらに含み、ベースシステム40と少なくとも1つのコアシステム50、60とを並列に接続して構成することもできる。                                    
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)