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1. (WO2008117732) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE L'ÉTAT D'UNE BATTERIE RECHARGEABLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117732    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/055164
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 13.03.2008
CIB :
G01R 31/36 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOYOTA CHUO KENKYUSHO [JP/JP]; 41-1, Aza Yokomichi, Oaza Nagakute, Nagakute-cho, Aichi-gun, Aichi, 4801192 (JP) (Tous Sauf US).
TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi, 4718571 (JP) (Tous Sauf US).
TOMURA, Shuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
UMENO, Takaji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
AMANO, Yasushi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NISHI, Yuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKEMOTO, Takeshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HAGA, Nobuyasu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUCHIMOTO, Tetsuya [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TOMURA, Shuji; (JP).
UMENO, Takaji; (JP).
AMANO, Yasushi; (JP).
NISHI, Yuji; (JP).
TAKEMOTO, Takeshi; (JP).
HAGA, Nobuyasu; (JP).
FUCHIMOTO, Tetsuya; (JP)
Mandataire : FUKAMI, Hisao; Fukami Patent Office, Nakanoshima Central Tower, 22nd Floor, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka, 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-077597 23.03.2007 JP
Titre (EN) STATE ESTIMATING DEVICE OF SECONDARY BATTERY
(FR) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE L'ÉTAT D'UNE BATTERIE RECHARGEABLE
Abrégé : front page image
(EN)A battery state estimating unit (110) estimates an internal state of a secondary battery according to a battery model equation in every arithmetic cycle, and calculates an SOC based on a result of the estimation. A parameter characteristic map (120) stores a characteristic map based on a result of actual measurement performed in an initial state (in a new state) on a parameter diffusion coefficient (Ds) and a DC resistance (Ra) in the battery model equation. The parameter change rate estimating unit (130) estimates a DC resistance change rate (gr) represented by a ratio of a present DC resistance (Ra) with respect to a new-state parameter value (Ran) by parameter identification based on the battery model equation, using battery data (Tb, Vb and Ib) measured by sensors as well as the new-state parameter value (Ran) of the DC resistance corresponding to the present battery state and read from the parameter characteristic map (120).
(FR)L'invention porte sur une unité d'évaluation (110) de l'état interne d'une batterie rechargeable selon une équation de modèle de batterie dans chaque cycle arithmétique et de calcul du SOC basé sur le résultat de l'évaluation. Une carte des caractéristiques des paramètres (120) stockée contient une carte des caractéristiques basée sur le résultat de mesure réelle exécutée dans un état initial sur un coefficient de diffusion de paramètre (Ds) et sur la résistance CC (Ra) dans l'équation de modèle de batterie. Une unité d'évaluation (130) de la vitesse de variation des paramètres évalue la vitesse de variation de la résistance CC (gr) représentée par le rapport de la résistance CC actuelle (Ra) sur la valeur du paramètre du nouvel état (Ran), au moyen de l'identification du paramètre basée sur l'équation de modèle de batterie en utilisant les données de batterie (Tb, Vb et Ib) mesurées par des détecteurs et la valeur (Ran) de la résistance CC correspondant à l'état présent de la batterie et lu dans la carte des caractéristiques des paramètres (120).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)