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1. (WO2008117499) DISPOSITIF DE TEST D'APPAREIL ÉLECTRONIQUE ET BOÎTE DE TEST D'APPAREIL ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117499    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/073924
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 12.12.2007
CIB :
G01R 31/00 (2006.01), G01R 29/10 (2006.01), H05K 9/00 (2006.01)
Déposants : NIPPON LIGHT METAL COMPANY, LTD. [JP/JP]; 2-20, Higashi-shinagawa 2-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1408628 (JP) (Tous Sauf US).
NAGASHIMA, Michio [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
UCHIDA, Katsuya [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YAMAMOTO, Katsushi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAGASHIMA, Michio; (JP).
UCHIDA, Katsuya; (JP).
YAMAMOTO, Katsushi; (JP)
Mandataire : ISONO, Michizo; c/o Isono International Patent Office Sabo Kaikan Annex 7-4, Hirakawa-cho 2-chome Chiyoda-ku, TokyO 1020093 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-075914 23.03.2007 JP
2007-075916 23.03.2007 JP
2007-266547 12.10.2007 JP
Titre (EN) ELECTRONIC APPARATUS TEST DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS TEST BOX
(FR) DISPOSITIF DE TEST D'APPAREIL ÉLECTRONIQUE ET BOÎTE DE TEST D'APPAREIL ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子機器用試験装置および電子機器用試験箱
Abrégé : front page image
(EN)It is possible to provide an electronic apparatus test device which can accurately test an electronic apparatus by using a test box (text chamber) having an improved radio wave shielding performance. Furthermore, it is possible to provide an electronic apparatus test box having a high visibility. That is, even when a thick ITO film is formed on a glass plate or when the ITO film is formed on both sides of the glass plate, it is possible to preferably view an electronic apparatus placed inside the test box. The test box includes: metal fingers (30, 32, 33) mounted on an opening periphery (12) of the test box (10) as a contact portion between the test box (10) and a door (20) or a periphery (22) of the door (20); and packing pieces (40, 41, 42) which are mounted on the periphery (22) of the door (20) or an opening brim (12) of the test box (10) for shielding a radio wave. Moreover, the test box includes a radio wave absorbing body (530) mounted on the inner surface of the test box body (510) and a bright-color insulation layer (540) fixed onto the surface of the radio wave absorbing body (530).
(FR)L'invention concerne un appareil électronique qui peut tester avec précision un appareil électronique à l'aide d'une boîte de test (chambre de test) ayant des performances de blindage radioélectrique améliorées. L'invention concerne en outre une boîte de test d'appareil électronique ayant une visibilité élevée. C'est-à-dire, même lorsqu'un film d'oxyde d'étain dopé à l'indium (ITO) épais est formé sur une plaque de verre ou lorsque le film ITO est formé sur les deux faces de la plaque de verre, il est possible de voir de préférence un appareil électronique placé à l'intérieur de la boîte de test. La boîte de test comporte : des doigts métalliques (30, 32, 33) montés sur le pourtour d'une ouverture (12) de la boîte de test (10) servant de partie de contact entre la boîte de test (10) et une porte (20) ou un pourtour (22) de la porte (20) ; et des pièces de garniture (40, 41, 42) qui sont montées sur le pourtour (22) de la porte (20) ou sur le bord d'une ouverture (12) de la boîte de test (10) à des fins de blindage radioélectrique. Par ailleurs, la boîte de test comporte un corps absorbant les ondes radioélectriques (530) monté sur la surface interne du corps de la boîte de test (510) et une couche d'isolation de couleur brillante (540) fixée sur la surface du corps absorbant les ondes radioélectriques (530).
(JA) 試験箱(試験室)の電波遮蔽性能を向上させた電子機器の試験を精密に行うことができる電子機器用試験装置を提供することを課題とし、さらに、ガラス板にITO膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にITO膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供することを課題とする。試験箱(10)と扉(20)との当接部分である試験箱(10)の開口縁部(12)または扉(20)の周縁部(22)に取り付けられる金属製のフィンガー(30,32,33)と、扉(20)の周縁部(22)または試験箱(10)の開口縁部(12)に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキン(40,41,42)とを備え、また、試験箱本体(510)の内周面に取り付けられた電波吸収体(530)と、その表面に固定された明色の絶縁層(540)とを備えた。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)