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1. (WO2008117333) ANALYSEUR DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/117333    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/000286
Date de publication : 02.10.2008 Date de dépôt international : 23.03.2007
CIB :
H01J 49/06 (2006.01), H01J 49/42 (2006.01)
Déposants : Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (Tous Sauf US).
OKUMURA, Daisuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
ITOI, Hiroto [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OKUMURA, Daisuke; (JP).
ITOI, Hiroto; (JP)
Mandataire : KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)Electrode members (11,12), in which two electrode element plates (21) belonging to every other virtual rod electrode around the ion optical axis and facing each other with an ion optical axis there between and an annular part (20) electrically connecting these two electrode element plates (21) are formed of a metal sheet, are held each by a resin-made electrode holder (13), and a predetermined number of these electrode holders (13) are rotated every other one by 90° around an ion optical axis and arranged in a stack in the ion optical axis direction, so that a virtual quadrupolar rod type ion guide is constituted. With such a constitution, the number of components of the analyzer can be reduced below conventional and the cable lines for connecting the electrode element plates (21, 25) onto which the same voltage is applied can be eliminated, thereby lowering the cost and facilitating assembly and adjustment during manufacture and use thereof.
(FR)L'invention concerne des éléments d'électrode (11, 12), dans lesquels deux plaques (21) d'éléments d'électrode appartenant à une électrode métallique virtuelle sur deux autour de l'axe optique d'ions opposées l'une à l'autre avec un axe optique d'ions entre elles et une partie annulaire (20) connectant électriquement ces deux plaques (21) d'éléments d'électrode sont formées sur une feuille métallique, sont maintenues chacune par un support (13) d'électrodes fait en résine, et un nombre prédéterminé de ces supports d'électrodes (13) sont tournés, un sur deux, chacun de 90° autour d'un axe optique d'ions et agencés dans un empilement dans la direction de l'axe optique d'ions, de telle sorte qu'un guide d'ions de type à tiges quadripolaires virtuelles est constitué. Avec une telle structure, le nombre de composants de l'analyseur peut être réduit en-dessous de la normale et les lignes câblées pour connecter les plaques (21, 25) d'éléments d'électrode sur lesquels la même tension est appliquée peuvent être éliminées, diminuant ainsi le coût et facilitant l'assemblage et l'ajustement pendant la fabrication et l'utilisation de cet analyseur.
(JA) イオン光軸の周りに1本おきの仮想ロッド電極に属しイオン光軸を挟んで対向する2個の電極素板部(21)と、この2個の電極素板部(21)を電気的に接続する円環状部(20)とを1枚の金属板で形成した電極部材(11、12)を樹脂製の電極ホルダ(13)で保持し、この電極ホルダ(13)を1個おきにイオン光軸の周りに90°回転させてイオン光軸方向に所定個数重ねて並べることにより、仮想四重極ロッド型イオンガイドを構成する。これにより、部品点数を従来よりも減らすことができるとともに、同一電圧が印加される電極素板部(21、25)を接続するケーブル線も不要になるので、コストを削減することができるとともに、組立や製造・使用時の調整も容易になる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)