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1. (WO2008092129) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION DE PROPRIÉTÉS DE SURFACE ET DE SUBSURFACE DE MATIÈRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/092129    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/052126
Date de publication : 31.07.2008 Date de dépôt international : 25.01.2008
CIB :
H01J 27/24 (2006.01)
Déposants : THE TRUSTEES OF PRINCETON UNIVERSITY [US/US]; P.O. Box 36, Princeton, NJ 08540 (US) (Tous Sauf US).
MILES, Richard, B. [US/US]; (US) (US Seulement).
DOGARIU, Arthur [US/US]; (US) (US Seulement).
GOLTSOV, Alexander [RU/RU]; (RU) (US Seulement).
SHNEIDER, Mikhail, N. [US/US]; (US) (US Seulement).
ZHANG, Zhili [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : MILES, Richard, B.; (US).
DOGARIU, Arthur; (US).
GOLTSOV, Alexander; (RU).
SHNEIDER, Mikhail, N.; (US).
ZHANG, Zhili; (US)
Mandataire : FRISCIA, Michael, R.; McCarter & English, LLP, Four Gateway Center, 100 Mulberry Street, Newark, NJ 07102 (US)
Données relatives à la priorité :
60/897,420 25.01.2007 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SURFACE AND SUBSURFACE PROPERTIES OF MATERIALS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION DE PROPRIÉTÉS DE SURFACE ET DE SUBSURFACE DE MATIÈRES
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for remotely monitoring properties of gases and plasmas, and surface and sub-surface properties of materials, is disclosed. A laser beam is focused at a desired region within a gas, plasma, or material (e.g., solid or liquid) to be analyzed, generating an ionized sample region or a localized, enhanced free carrier region. A beam of microwave radiation is directed toward the ionized sample region or the free carrier region, and the microwave radiation is scattered. The scattered microwave radiation is received by a microwave receiver, and is processed by a microwave detection system to determine properties of the gas, plasma, or material, including surface and sub-surface properties.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil permettant de surveiller à distance les propriétés de gaz et de plasmas ainsi que les propriétés de surface et de subsurface de matières. Un faisceau laser est focalisé sur une zone souhaitée dans un gaz, un plasma ou une matière (par ex., solide ou liquide) à analyser, d'où la génération d'une zone d'échantillon ionisée ou d'une zone localisée de porteurs libres excités. Un faisceau de rayonnement de micro-ondes est dirigé vers la zone d'échantillon ionisée ou la zone de porteurs libres, et le rayonnement de micro-ondes est diffusé. Le rayonnement de micro-ondes diffusé est reçu par un récepteur de micro-ondes et traité au moyen d'un système de détection de micro-ondes en vue d'une détermination des propriétés du gaz, du plasma ou de la matière, et notamment des propriétés de surface et de subsurface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)