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1. (WO2008090600) ANALYSEUR DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/090600    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/050939
Date de publication : 31.07.2008 Date de dépôt international : 23.01.2007
CIB :
H01J 49/08 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (Tous Sauf US).
MUKAIBATAKE, Kazuo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MUKAIBATAKE, Kazuo; (JP)
Mandataire : KASHIMA, Yoshio; SHINSEI & Co. 409 Yuni Higashi-Umeda 7-2, MinamiOgi-machi Kita-ku, Osaka-city Osaka 5300052 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)This invention provides a mass analyzer comprising an ion transport optical system which can enhance the generation efficiency and convergent efficiency of fragment ions and can transfer the generated fragment ions to a later stage with high efficiency. The mass analyzer ionizes a sample in an ionizing chamber (10) and draws the ionized sample into a mass analysis chamber (18). The mass analyzer is characterized by comprising an ion transport optical system provided with electrodes (17, 200-1, 200-2) provided so as to surround an ion optical axis, the electrodes (17, 200-1, 200-2) having a slant face which is slanted so as to be widened toward the direction of travel of the ion optical axis.
(FR)Cette invention concerne un analyseur de masse comprenant un système optique de transport d'ions qui peut améliorer le rendement de génération et le rendement de convergence d'ions fragments et peut transférer les ions fragments générés à un étage ultérieur avec un rendement élevé. L'analyseur de masse ionise un échantillon dans une chambre d'ionisation (10) et attire l'échantillon ionisé dans une chambre d'analyse de masse (18). L'analyseur de masse est caractérisé par le fait qu'il comprend un système optique de transport d'ions doté d'électrodes (17, 200-1, 200-2) disposées de façon à entourer un axe optique d'ions, les électrodes (17, 200-1, 200-2) ayant une face inclinée qui est inclinée de façon à être élargie vers la direction de déplacement de l'axe optique d'ions.
(JA) 本発明の課題は、フラグメントイオンの発生効率や収束効率を上げ、発生したフラグメントイオンを効率よく後段へと輸送することができるイオン輸送光学系を具備する質量分析装置を提供することである。 その解決手段は、イオン化室(10)で試料をイオン化し、イオン化された試料を質量分析室(18)に引き込む質量分析装置であって、イオン光軸を取り囲むように、配設された電極(17、200-1、200-2)を備えるイオン輸送光学系を具備し、前記電極(17、200-1、200-2)は、前記イオン光軸の進行方向に対して広がるように傾斜する傾斜面を有することを特徴とすることである。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)